本产品符合国标GB/T18043-2013对仪器分辨率的要求，EDX3000B采用Si-Pin半导体探测器，远胜于正比计数探测器;无误地分析黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量。

性能特点
稳定X光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
数字脉冲处理器，数据处理快速
放大电路、高低压电源
单样品腔，手动开关机盖，操作安全、方便
三重安全保护模式
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型
特别开发用软件，操作界面十分友好

应用域
质检中心
饰加工厂
金银珠宝饰店
贵金属冶炼厂
典当行
贵金属回收
分析测试中心

贵金属行业解决方案

国家质检总局发布的国家标准GB/T18043《贵金属饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》中明确指出可使用X荧光来进行贵金属含量的无损检测方法。
目在贵金属制造行业已经形成大规模使用X荧光光谱仪（XRF）来测试贵金属含量。

XRF对贵金属检测的独特优势

标准：产品符合国家相关行业标准和技术标准，并通过质监局等相关检验机构检验，并可以提供校准证书；
快速：对样品无需处理，一般只需要20～200即可判定金、银、铂、钯等含量，方便对饰品做大量抽样的检测；
：ppm精确度，的检测数据；
无损：测试后，样品无任何形式的变化；
直观：实时谱图，可直观显示贵金属或有害元素含量；
简易：操作简易，无需业测试人员，无需严格的测试条件；
安全：三重保护装置，确保安全无误；
经济：测试过程基本不需要任何耗材，降低测试与维护费用；
：为化学分析提供测量依据，减少成本，提率。