Thick800A测厚仪操作流程

1 分析元素范围：K-U

2 同时可分析多达5层以上镀层

3 分析厚度检出限*达0.005μm

4 多次测量重复性*可达0.01μm

5 定位精度：0.1mm

5 测量时间：30s-300s

6 计数率：1300-8000cps

7 Z轴升降范围：0-140mm

8 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

性能特点

1 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

安装要求：

1 环境温度要求：15℃-30℃

2 环境相对湿度：<70%

3 工作电源：交流220±5V

4 周围不能有强电磁干扰。

用户使用“Administrator”，密码：skyray

2） 进入测试软件后，选择“测试条件”

点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）

3） 选择“工作曲线”

如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推

4） 放入“Ag片”对仪器进行初始化

初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到定的数，如300以上）。

5） 待测样品测试

放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点（由图中激光的红斑所示）。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。

6） 测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。

注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。