X荧光矿石分析仪XRF|江苏天瑞仪器股份有限公司

产品介绍

我的地质矿产行业，从开始均采用化学分析的手段对地质样品进行测试，这种方法直沿用到现在依然是种非常的方法，但是其测试速度慢、对测试人员要求高、测试环境要求高，无法实现现场快速分析。

从70年代末开始直在引入外的分析设备来不断提升分析测试能力，到X荧光矿石分析仪在地矿系统中应用非常广泛，产品分为台式X荧光矿石分析仪和便携式X荧光矿石分析仪。

性能特点

X荧光法在应用于矿石行业的特点很明显，分析速度快，前处理简单，样品无损、人为误差小、分析范围广、检出限达到ppm级等的特点。可以测液体、固体和粉未样品。可用于室内外现场分析

。

1、设备简单易用（野外设备需要便携）

2、可快速对样品做定性分析

3、对样品可做半定量或准定量分析。

4、样品处理方法简单或无前处理

5、设备、维修、维护简单

6、便捷、低廉的售后服务

仪器分析精度

测试

便携式X荧光矿石分析仪测定多金属矿中元素的方法

测试对象：多金属矿

仪器：Genius 7000XRF

测定步骤：

步：前处理样品-粉碎后压片10g左右直接测试。

二步：确定测试时间：30S

三步：测试其重复性得出相对标准偏差

测试结果