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更新时间:2026/10/12 17:21:37关注度:4832
关键词标签:天瑞800A镀层测厚仪,天瑞800A镀层测厚仪,天瑞800A镀层测厚仪
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型号:800a
原理:X射线荧光光谱仪
生产厂商:skyray
详细配置信息:
硬件:主机壹台,含下列主要部件:
(1) X光管 (2)Si-PIN电制冷半导体探测器
(3)信号检测电子电路 (4)高精度二维移动平台
(5)高清晰摄像头 (6) 高低压电源
(7) 开放式样品腔 (8)双激光定位装置
(9) 铅玻璃屏蔽罩
软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
技术参数:
1.1分析元素范围:K-U
1.2 同时可分析多达5层镀层
1.3分析厚度检出限达0.005μm
1.4 定位精度:0.1mm
1.5测量时间:5s-300s
1.6计数率:0-8000cps
1.7 Z轴升降范围:0-140mm
1.8 X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D)
工作条件:
2.1环境温度要求:15℃-30℃
2.2环境相对湿度:<70%
2.3工作电源:交流220±5V
2.4周围不能有强电磁干扰。
性能特点:
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护