
服务

产品完善度:
更新时间:2026/10/12 17:21:16关注度:4851
关键词标签:X荧光射线膜厚分析仪800A,X荧光射线膜厚分析仪800A,X荧光射线膜厚分析仪800A
支付方式:
X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款仪器,可自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
测量镀金、镀银、镀锌、镀锡、镀镍等金属厚度的检测
五金类、螺丝类、PCB类、 连接器端子类行业、电镀类、金饰相关行业等
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业
非破坏,非接触式检测分析,快速
可测量高达5层的镀层
兼容Microsoft 微软作业系统之测量软件,操作方便,直接可用Office软件编辑结果
标准配备 : 溶液分析软件,可以分析电镀液成份与含量
准直器口径多种选择,可根据样品大小来选择准值器的口径
移动方式: 系列自动载台电动控制,减少人为视差
雷射 自动对焦,配合彩色CCD撷取影像使用point and shot功能
独特2D与3D或任意位置表面量测分析
元素成份与含量分析1ppm侦测极限,兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物质检测分析
标准ROI软件搭配内建多种专业结果格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整结果
光学20X影像放大功能,更能对位
单位选择:um
优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的优势
仪器正常使用保固期年,强大的专业技术支援及良好的售后服务
测试方法符合ISO 3497、ASTM B568及DIN 50987。