• 企业类型：制造商
• 新旧程度：新
• 原产地：昆山市玉山镇中华园西路1888号
• 适用行业：电镀厂，电子厂、高低压配件厂
• 镀种：镀金银铜锡镍铬锌等
• 测量范围：0.005微米~50微米
• 测试原理：X射线光谱仪分析原理

镀层厚度测量仪器

产品简介

Thick 800A镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

仪器配置

1 硬件：主机壹台，含下列主要部件：

（1） X光管 （2） 半导体探测器

（3） 放大电路 （4） 高精度样品移动平台

（5） 高清晰摄像头 （6） 高压系统

（7） 上照、开放式样品腔 （8）双激光定位

（9） 玻璃屏蔽罩

2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

3 计算机、打印机各台

计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）

4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。

镀层厚度测量仪器

参数规格

1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）；

2.同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层；

3.分析含量：般为2ppm到99.9%；

4.镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）；

5.SDD探测器：分辨率低至135eV；

6.的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm；

7.样品观察：配备景和局部两个工业高清摄像头；

8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合；

9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；

10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；

11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；

12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；

13.X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um；

镀层厚度测量仪器

性能特点

1.精密的三维移动平台；

2.的样品观测系统；

3.的图像识别；

4.轻松实现深槽样品的检测；

5.四种微孔聚焦准直器，自动切换；

6.双重保护措施，实现无缝防撞；

7.采用大面积高分辨率探测器，降低检出限，提高测试精度。

安装要求：

1 环境温度要求：15℃-30℃

2 环境相对湿度：<70%

3 工作电源：交流220±5V

4 周围不能有强电磁干扰。