荧光镀层测厚仪

江苏天瑞仪器股份有限公司 李经理：13151152858

光谱镀层测厚仪_荧光镀层测厚仪厂家_skyray

1.1分析元素范围：K-U

1.2 同时可分析多达5层镀层

1.3分析厚度检出限高达0.005μm

1.4 定位精度：0.1mm

1.5测量时间：5s-300s

1.6计数率：0-8000cps

1.7 Z轴升降范围：0-140mm

1.8 X/Y平台可移动行程：50mm（W）×50mm（D）

工作环境要求：

2.1环境温度要求：15℃-30℃

2.2环境相对湿度：<70%

2.3工作电源：交流220±5V

2.4周围不能有强电磁干扰。

技术参数

1.1分析元素范围：K-U

1.2 同时可分析多达5层镀层

1.3分析厚度检出限高达0.005μm

1.4高压：5kV-50kV

1.5管流：50μA-1000μA

1.6 测量时间：5s-300s

1.7 样品腔尺寸：306mm×260mm

1.8 计数率:0-10000cps

工作环境要求：

2.1环境温度要求：15℃-30℃

2.2环境相对湿度：<70%

2.3工作电源：交流220±5V

2.4周围不能有强电磁干扰。

1.1分析元素范围：S-U

1.2测量精度：0.05%（含量大于96%的样品）

1.3元素测量范围：PPM级-99.99%

1.4高压：5kV-50kV

1.5管流：50μA-1000μA

1.6能量分辨率：165±5eV

1.7RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Br低达2ppm（因基体不同检出限可能存在一定差异）。

1.8测量时间：60s-300s

1.9计数率：1300-8000cps

工作环境要求：

2.1环境温度要求：15℃-30℃

2.2环境相对湿度：<70%

2.3工作电源：交流220±5V

2.4周围不能有强电磁干扰。

光谱镀层测厚仪_荧光镀层测厚仪厂家_skyray

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