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x-ray膜厚分析仪

Name: x-ray膜厚分析仪THICK800A
Price: 218000 CNY

点击次数：930

价格：￥218000

更新日期：2026/9/9 16:28:17

生产地：中国大陆

产品型号：THICK800A

简单介绍：X-ray膜厚分析仪在光学行业中也大显身手。在光电子设备、光学玻璃制造等域，对薄膜材料的膜厚要求非常高。通过X-ray膜厚分析仪进行测试，可以实时监测膜厚，并及时调整生产工艺，避免因膜厚偏差而造成的产品质量问题。

详细内容

X-ray膜厚分析仪：揭开科技的新篇章

在当科技发展迅猛的时代，X-ray膜厚分析仪成为了不可或缺的一项技术。它是一种高精度、率的测试仪器，用于通过X射线辐射来测量和分析物体的膜厚。这项技术的出现，给许多行业带来了巨大的便利，并成为提高生产效率的利器。

现如，X-ray膜厚分析仪的应用域十分广泛。先，它在电子行业中扮演着重要角色。在电子产品制造过程中，薄膜材料的厚度对产品的功能和质量起着决定性的作用。因此，通过使用X-ray膜厚分析仪，生产商可以地测量出膜厚，确保产品符合标准要求。

此外，X-ray膜厚分析仪在光学行业中也大显身手。在光电子设备、光学玻璃制造等域，对薄膜材料的膜厚要求非常高。通过X-ray膜厚分析仪进行测试，可以实时监测膜厚，并及时调整生产工艺，避免因膜厚偏差而造成的产品质量问题。

X荧光金无损镀层测厚仪特点特点
1.上照式
2.高分辨率探测器
3.鼠标定位测试点
4.测试组件可升降
5.可视化操作
6良好的射线屛蔽
7.高格度移动平台
8.自动定位高度
9.超大样品腔
10 .小孔准直器
11.自动寻找光斑
12.测试防护
X荧光无损镀层测厚仪

技术指标
X荧光金无损镀层测厚仪型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg