联系我们
联系人：丁林
X射线断层扫描
显微CT
定氮仪
同位素检测仪
TOC总有机碳分析仪
TOC
全自动高速X射线显微成像系统
PDF-2 2020衍射数据库卡片
XRD
ESR
PDF-4
化学发光分析仪
同位素质谱仪
TOC分析仪/总有机碳分析仪
定氮仪、凯氏定氮仪、Dumas定氮仪
工业CT
碳硫分析仪(红外碳硫仪)
有机元素分析仪
金属多元素分析仪
红外光谱(IR、傅立叶)
X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设
核磁共振(NMR)
电子自旋(顺磁)共振波谱仪(ESR)
其他服务
X荧光光谱、XRF（波长色散型X荧光光谱仪）
X射线衍射仪(XRD)
高分辨率X射线成像系统
PDF卡片
国际衍射数据中心JADE软件
电子自旋共振波谱仪
释光测定仪
定氮仪、杜马斯定氮仪
MDP
电子顺磁共振波谱仪
X射线显微CT
智能化XRD分析软件
X射线显微成像系统
激光拉曼光谱仪
荧光光谱仪
产品展示
Skyscan1272 微焦点CT-半导体元器件X射线显微成像系统
点击次数：155
价格：￥电议
更新日期：2026/9/9 16:21:25
生 产 地：
产品型号：Skyscan1272
商家名片
丁*
联系我时，请说明是阿仪网看到的，谢谢!
- 电话: 02*******181
- 手机: 17******977
- 微信:
- 交换名片后展示联系方式 → →
相关标签：Skyscan1272,,微焦点CT-半导体元器件X射线显微成像系统
详细内容
CT基本原理
微焦点CT-半导体元器件X射线显微成像系统(3D XRM)是一种基于X射线的成像技术，使用微型计算机断层扫描技术(Micro Computed Tomography)。包括扫描和重构两个主要部分，Micro/Nano 表明其分辨率可达到微米/亚微米级别。
半导体产业是国家重点支持和鼓励的发展方向，半导体器件封装和内部缺陷检测越来越重要，而微焦点CT-半导体元器件X射线显微成像系统(3D XRM)，可以在无损不破坏样品的情况下，清晰地观测到电子元器件的分布情况及封装器件的内部结构，同时，可检测虚焊、连锡、断线等缺陷信息，可以三维重构整个半导体器件内部结构，对于研发和后期加工工艺的改进、提升起到重要的指导作用。
SkyScan 1272 High Resolution Micro CT针对半导体领域小样品器件，如电阻电容、摄像头的镜头等有着超高分辨率优势。
应用实例
小型电子产品
Inductor – 3 µm voxel size
Chip – 2 µm voxel size
了解更多应用方向，请致电束蕴仪器（上海）有限公司
Skyscan1272,,微焦点CT-半导体元器件X射线显微成像系统
