天瑞仪器X荧光测厚仪产品性能和技术指标介绍，天瑞生产的X荧光测厚仪是基于X射线光谱强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器江苏天瑞仪器股份有限公司生产，XRF厚仪器可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。这是一种物理分析方法的测厚仪，其分析与样品的化学结合状态无关。

它对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。通过鼠标可控制移动平台，只要是点击的位置就是被测点X射线光谱测厚仪应用于金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。，XRF厚仪器可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。如：贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。工作条件

工作温度：15-30℃
相对湿度：≤70%
电 源：220±5V，单相50Hz，接地电阻＜1Ω
实验室无震动、粉尘、强电磁干扰、强气流、腐蚀性气体
辅助设备
两米长，八十公分宽的工作台，交流参数稳压电源——1KVA，空调——依实验室面积配置匹配功率。长期测试技术服务的积淀，天瑞仪器为钢铁、有色金属材料分析用户提供成熟的测试方案。测试方案采用针对材料元素含量分类的分析程序，满足用户各类常见测试需求。分析程序由原厂采用国际、*标准样品校准，经*仪器软件拟合、校正。用户只需采用原厂配置少量标准化样品即可完成日常维护，不需购买大量制作分析程序的标准样品。

光谱色散元件——光栅由德国Zeiss制造，保证优异的光谱分辨能力
光谱检测器——光电倍增管由日本Toshiba制造，确保谱线检测灵敏、低噪声
光学镜片——德国Zeiss制造，光纤——美国Agilent制造。