联系我们
联系人：钟志敏
产品展示
新型超高分辨冷场发射扫描电镜行业领导者？
点击次数：617
价格：￥电议
更新日期：2026/9/8 4:10:41
生 产 地：日本
产品型号：
商家名片
钟**
联系我时，请说明是阿仪网看到的，谢谢!
- 电话: 15******055
- 手机: 15******772
- 微信:
- 交换名片后展示联系方式 → →
相关标签：高性能发射扫描电镜,高分辨率发射扫描电镜,高效发射扫描电镜
详细内容
产品简介：
日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
我司专业供应（矿物油分析仪，食品风味分析仪 ，液相色谱离子迁移谱，）ROHS环保检测仪,X荧光光谱仪、
![]()
我司专业供应（矿物油分析仪，食品风味分析仪 ，液相色谱离子迁移谱，）ROHS环保检测仪,X荧光光谱仪、
日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
特点： 联系人钟先生 1564055 / ：
1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。
2. Hitachi专利设计的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。
3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。
4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。
5. STEM的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。
6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。
合金分析仪，安全消防3C认证氢元素分析仪，重金属分析仪、金属元素分析仪，全谱直读光谱仪，XRF射线镀层测厚仪，傅里叶变频光谱仪，/ICP等离子光谱仪，Gc-Ms气相色谱联用仪，AAS原子吸收分光光度计，AFS原子荧光光谱仪，HPLC高效液相色谱仪，ICS离子色谱仪，UV紫外线分光光度计，分析天平，超纯净水机，显微镜，扫描电镜，扫描电镜制样设备离子研磨仪 金相制样设备等 实验室仪器设备，同时我们为您提供“一站式”欧盟环保检测综合解决方案－－－－安全消防3C认证－－－－无卤实验室、ROHS2.0实验室及欧盟REACH实验室。联系人钟先生 1564055 / ： 合金分析仪，安全消防3C认证氢元素分析仪，重金属分析仪、金属元素分析仪，全谱直读光谱仪，XRF射线镀层测厚仪，傅里叶变频光谱仪，/ICP等离子光谱仪，Gc-Ms气相色谱联用仪，AAS原子吸收分光光度计，AFS原子荧光光谱仪，HPLC高效液相色谱仪，ICS离子色谱仪，UV紫外线分光光度计，分析天平，超纯净水机，显微镜，扫描电镜，扫描电镜制样设备离子研磨仪 金相制样设备等 实验室仪器设备，同时我们为您提供“一站式”欧盟环保检测综合解决方案－－－－安全消防3C认证－－－－无卤实验室、ROHS2.0实验室及欧盟REACH实验室。联系人钟先生 1564055 / ：
日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
我司专业供应（矿物油分析仪，食品风味分析仪 ，液相色谱离子迁移谱，）ROHS环保检测仪,X荧光光谱仪、
我司专业供应（矿物油分析仪，食品风味分析仪 ，液相色谱离子迁移谱，）ROHS环保检测仪,X荧光光谱仪、
日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
特点： 联系人钟先生 1564055 / ：
1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。
2. Hitachi专利设计的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。
3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。
4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。
5. STEM的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。
6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。
| 项目 | 技术指标 | |||
| 二次电子分辨率 | 0.4nm （加速电压30kV，放大倍率80万倍） | |||
| 1.2nm （加速电压1kV，放大倍率25万倍） | ||||
| STEM分辨率 | 0.34nm（加速电压30kV，晶格象） | |||
| 观测倍率 | 底片输出 | 显示器输出 | ||
| LM模式 | 80~10,000x | 220~25,000x | ||
| HM模式 | 800~3,000,000x | 2,200~8,000,000x | ||
| 样品台 | 侧插式样品杆 | |||
| 样品移动行程 | X | ±4.0mm | ||
| Y | ±2.0mm | |||
| Z | ±0.3mm | |||
| T | ±40度 | |||
| 标准样品台 | 平面样品台：5.0mm×9.5mm×3.5mmH | |||
| 截面样品台：2.0mm×6.0mm×5.0mmH | ||||
| 专用样品台 | 截面样品台：2.0mm×12.0mm×6.0mmH | |||
| 双倾截面样品台：0.8mm×8.5mm×3.5mmH | ||||
| 信号检测器 | 二次电子探测器 | |||
| TOP 探测器（选配） | ||||
| BF/DF 双STEM探测器（选配） | ||||
高性能发射扫描电镜,高分辨率发射扫描电镜,高效发射扫描电镜
