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当前位置:阿仪网>深圳市创鑫仪器有限公司>技术文章>SMD3225贴片晶振的测试方法

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技术文章

SMD3225贴片晶振的测试方法

点击次数:3354 发布时间:2023/4/19 22:27:52

3225贴片晶振是石英晶振的一种,采用SMD贴片形式封装,因晶振尺寸为3.2*2.5*1.0mm故名为3225贴片晶振;3225贴片晶振分两种类型:3225贴片有源晶振和3225贴片无源晶振;经常用于蓝牙、WiFi等无线产品域

3225贴片有源晶振特点

01、采用优质石英晶体作为晶振核心频率原料

02、使用3.2*2.5*1.0mm尺寸贴片金属封装

03、支持三态功能

04、支持卷轴编带包装,用于自动安装和回流焊

05、高精度、高稳定
SMD3225贴片晶振测试仪
JC-3195A高精度晶振测试仪
详细资料
1. 概述
JC-3195A高精度晶振测试仪
是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL(机内带可调负载电容12.5pF~50pF,且等效电阻和谐振频率直接读数,激励功率可调)。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。
2. 技术参数
2.1 频率范围: 1 ~ 60 MHz
频段划分: 1 1 ~ 2.2 MHz
2 2.2 ~ 5 MHz
3 5 ~ 10 MHz
4 10 ~ 20 MHz
5 20 ~ 40 MHz
6 40 ~ 60 MHz
2.2 测量网络的终端电阻:源端 24 Ω;负载端 27 Ω。
2.3 起振电阻范围:
1 ~ 10 MHz起振电阻范围为0 ~ 500 Ω;
10 ~ 60 MHz起振电阻范围为0 ~ 100 Ω。
2.4 阻值读数范围:
0 ~ 1999.9 Ω 误差±(10+频率MHz为单位时/10)%。
2.5 激励功率范围: 1.5 ~ 1200μW 误差±25%

原创作者:深圳市创鑫仪器有限公司

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