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SANTEC 旗舰版高性能可调谐激光器 >10mW TSL-770 1490-1630nmTSL-770-P-490630-P-F-AP-00-1
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品牌名称:$brandModel.Title型号:TSL-770-P-490630-P-F-AP-00-1 原产地:中国大陆 更新时间:2026/9/21 9:09:04
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详细内容
产品总览
TSL⁻⁷70 凝聚了 Santec 三十多年的专业经验和知识,是一款操作灵活且适合广泛应用的高规格的可调谐激光器。重新设计的激光腔体与超低噪声的电路基板相结合,可在 同一激光器中实现市场领xian的扫描速度、高输出功率、宽 调谐范围、低噪声以及窄线宽。创新的专用腔体设计增强 了 Q 因子和波长稳定性,即使在ding尖的研究应用中也能够实现精确测量。
型号参数
特点
极宽的可调谐范围:1480-1640nm
全波段无跳模波长连续可调
高速:高达 200nm/s 的波长扫描
高输出功率:+13dBm
高信噪比:90dB/0.1nm
高波长精度:0.3pm ( 典型值 )
窄线宽:<60kHz
应用
光学元件 & 光子材料表征
光纤传输测试( 载波 LD、本地振荡器等 )
干涉测量、光谱学、计量学( OFDR、气体传感器、太赫兹生成等 )

技术 & 典型性能
一,宽调谐范围
TSL⁻⁷70 采用 Littman-Metcalf 配置以实现 160nm 范围的无跳模调谐。
驱动机构坚固耐用,可确保使用的性能,并且被隔离开来以消除激光器中的声学和机械噪声


二,高信噪比、高功率
采用创新的外腔设计,以降低光学 SSE 噪声,实现拥有90dB/0.1nm 的超高信噪比的同时 , 依然能够保持高达
+13dBm 的高功率输出。TSL⁻⁷70 是下一代高动态范围滤波器和波长选择开关 (WSS) 组件测试的理想选择。

三,内置高性能波长计
TSL⁻⁷70 内置有jue对波长精度为 +/-2 pm 高精度波长计,并可在连续扫描模式下存储(记录)波长数据。

四,窄线宽和低抖动
通过将光学腔与机械振动分离,使激光腔中的 Q 值得以Max. 化。这使得 TSL⁻⁷70 具有超窄激光线宽和市场领xian的波长稳定性。

五,快速扫描技术
Santec 的光学机械设计可实现高达 200nm/s 的快速扫描, 且具有高精度和高重复性。加速和减速的周期被Min. 化,以进一步减少重复扫描的测量时间。

规格
种类 | 项目参数 | 单位 | 性能 | ||
波长特性 | 波长调谐范围 | nm | SCL-band: 1480 - 1640 (160 nm) | CL-band: 1490 - 1630 (140 nm) | |
波长分辨率 | pm | 0.1 | |||
jue对精度 *1 | 工作温度 | pm | ± 1.5 | ||
25±1℃(typ.) | pm | ± 0.5 | |||
重复性 *1 | pm | ± 0.5 (± 0.2 (typ.)) | |||
稳定性 *2 | pm | < ± 0.5 (24 hours) | |||
扫描速度 | nm/s | 0.5 to 200 | |||
精细调谐范围 | GHz | ≥ 10 | |||
输出功率特性 |
输出功率 *8 | 峰值(典型值) | dBm | ≥ 13 | ≥ 13 |
> 10 dBm 范围 | dBm | ≥ 10 (1500 - 1630 nm) | ≥ 10 (1500 - 1630 nm) | ||
全波长调谐范围 | dBm | ≥ 7 | ≥ 8 | ||
功率重复性 *1, *3 | dB | ± 0.01 (± 0.002(typ.)) | |||
功率稳定性 *2 | dB | ± 0.01 (1 hour), (( ± 0.02 (24 hours, typ.)) | |||
输出平坦度和波长比 *1, *3, *8 | dB | ± 0.2 ( ± 0.05 (typ.)) | |||
相对强度噪声(典型值)*4 | dB/Hz | -145 (1 MHz to 3 GHz) | |||
光谱 | 线宽(典型值) | 相干控制关 | kHz | 60 | |
相干控制开 | MHz | 40 | |||
SMSR(典型值) | dB | ≥ 50 | |||
STSSER *5 | dB | ≥ 70 | |||
STSSER *6 | dB/nm | ≥ 80 (≥ 90 dB/0.1 nm) | |||
接口 | 光输出端口 | - | FC or SC, SPC or APC | ||
光纤 | - | PMF *7 | |||
通信 | - | GP-IB (IEEE 488.2), USB, Ethernet | |||
调制 | 低频调制 | kHz | DC to 400 (typ.) | ||
高频调制(可选) | MHz | 2 to 100 (typ.) | |||
环境条件及其他 | 工作环境 | 温度 | ºC | 15 to 35 | |
湿度 | % | < 80 (non-condensing) | |||
电源 | - | AC 100 - 240 V (±10 %), 50/60 Hz | |||
额定功率 | VA | 100 | |||
尺寸 (W×D×H) *9 | mm | 440 x 416 x 133 | |||
质量 | kg | 16 | |||
* 所有的规格参数测量前均需要 1 个小时以上的设备预热。规格适用于水吸收波长范围以外的波长。
*1: 在静态状态或步进扫描模式下。
*2: 在温度变化 ± 0.5℃以内。
*3: 使用 “Auto” 功率模式。
*4: 使用Max. 输出功率。
*5: STSSER 信号波长 ±15nm 范围内的全自发辐射光输出的比 ( 典型值 )。
*6: SSSER 信号除去中心波长 ±1nm 的范围,中心波长输出和其 ±3nm 的范围内的自发辐射光输出Max. 值的比 ( 典型值 )。
*7: 偏振轴与连接器对齐。偏振消光比为 17 dB ( 典型值 )。
*8: 指标保证范围从起始到 1630nm。
*9: 突出部分除外。

TSL⁻⁷70 内置一个功率监视器,可用于实时补偿输出功率的波动 , 无需使用光功率参照,这样减少了测试系统中所需功率计的数量。TSL⁻⁷70 与 Santec 的功率计 MPM-210H、偏振控制器PCU-110 搭配,可为用户提供一个 WDL 或 PDL 测试的完整的解决方案。Santec 提供整套系统的控制软件以及动态链接库 (DLL),并支持使用各种编程语言进行系统集成和控制。


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