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x射线荧光元素分析仪
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价格:¥电议
更新日期:2026/9/9 16:27:53
生 产 地:中国大陆
产品型号:
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详细内容
在合金分析、元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。超薄窗X光管,指标达到际水平。新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好。SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比。低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好。智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围。自动稳谱装置了仪器工作的致性。
X射线荧光分析仪技术参数
产品型号:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
应用领域:
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。
分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等
x射线荧光分析仪核心配置,
美Amptek原装进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、X光管
计算机、打印机、真空泵(选配)、稳压电源(选配)
软件:贵金属分析软件(标配)、镀层分析软件Thick(选配)、ROHS有害元素分析软件(选配)。



