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美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪

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品牌名称：$brandModel.Title型号：原产地：中国大陆更新时间：2026/10/9 12:23:11

产品摘要：美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

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详细内容

美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪

产品特点
Panametrics 35系列的特性
• 所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。
• 可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取决于仪器和材料。
• 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。

• 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。
• 手持式，仅重0.24公斤（8.5盎司）。
• 最小/最大模式
• 高-低报警
• 英制和公制显示（英寸或毫米）
• 多种语言用户界面
• 长效电池

Panametrics 35型和35DL型
在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

应用领域
• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸
Panametrics 35HP型和35DL-HP型
HP测厚仪具有极低的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。这种设计的主要目的是在测量较厚的、声速衰减明显或声速散播强的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下，使用大多数其它超声测厚仪无法对这些材料进行测量。
• 大多数较厚的或具有高声速衰减性的材料
• 厚金属铸件
• 厚橡胶轮胎、履带
• 玻璃纤维船体、储罐
• 复合材料板
• 分辨率为0.01毫米或0.001英寸

35HP型测厚仪是测量玻璃纤维和复合材料部件的理想工具，其测量的对象包括对厚度控制有严格要求的航空航天器部件、船体及储罐。

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