NIR光纤耦合PbS阵列光谱仪

NIR光纤耦合PbS阵列光谱仪主要特征：

1.波长范围宽，可检测1000－2900nm，并且在1700-2900nm范围内优于InGaAs 检测器，可与InGaAs阵列检测器组合起来满足宽波长范围的近红外检测要求
2. 检测速度快，最短积分时间可达0.004ms
3. 采用14位数位仪
4. 无移动组件,结构紧凑，经久耐用
5. TE致冷控温,可提高信噪比

NIR光纤耦合PbS阵列光谱仪技术规格：

检测器: TE致冷控温256元PbS阵列
光谱范围:1000-2900nm
光学分辨率: 2到>10nm(FWHM)
摄谱仪光学结构:Crossed Czeerny-Turner
摄谱仪f#: 3.0
光栅: 200－1200线/mm可用，带不同闪耀波长
狭缝: 40－400μm宽，取决于分辨率要求（狭缝高：1000μm）
A/D转换仪:14位
积分时间: 0.004ms （最小）到218ms（最大）
尺寸: 6.1×3.75×1.75英寸
重量: 2.5磅