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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪XRF

日本理学波长色散X射线荧光光谱仪XRF

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价格:¥电议

更新日期:2026/9/9 16:21:49

生 产 地:日本

产品型号:primuslll+

简单介绍:primuslll+提供主要和次要原子元素的快速定量测定,从氧(O)到铀(U)的最低标准的广泛样品类型。

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相关标签:X射线荧光光谱仪,XRF,日本理学

详细内容


日本理学波长色散X射线荧光光谱仪XRF:广范围的样品类型建立了速度、可靠性和灵活性的新标准。它将解决苛刻的日常工业生产过程和质量控制应用中遇到的复杂问题,包括冶金、石油、聚合物、矿物、玻璃、水泥和耐火材料行业,及专注于地球化学、汽车工程、材料科学、环境研究和法证的科研实验室都将受益于其优异的性能及多功能。

特 点:

高度自动化的分析,省力省时

适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析,可对多种样品进行从微量到高含量的分析。

仅需约3分钟即可完成1个样品中十几种元素的定量分析,由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动分析。

生产流程的管理分析

可快速获得分析结果,经数据处理后,可进行质量检验、规格判断等,应用于生产管理分析(特别是炉前分析)。

质量控制

迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果(配比计算)作为原料配制的控制数据进行反馈,用于提高质量及稳定质量。

ZSX Primus III+

● 制样简单、快速

● 样品整个表面、表面某一部分或特定点处的分析

● 分析速度快

● 稳定性高、精度高

● 动态范围宽(从ppm 至百分之百%)

● 先进的无标样分析软件包,可以对完全未知的样品进行简单、快速的分析

上照射式波长色散X射线荧光光谱仪

Features

从O到U的元素分析

上照射式光学最小化污染

小占地面积节省实验室空间

高精度样品定位

特殊光学减少由于弯曲的样品表面造成的错误

统计过程控制(SPC)的软件工具

优化抽空和真空泄露率改善吞吐量

X射线荧光光谱仪,XRF,日本理学

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