CMI900X射线荧光镀层测厚仪?技术参数

主要规格 规格描述

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统 zui多可同时装配6种规格的准直器

多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

样品室

－样品室结构 开槽式样品室

－zui大样品台尺寸 610mm x 610mm

－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm
还有5种规格任选

－Z轴程控移动高度 43.18mm

－XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

－样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。（50倍和100倍观察系统任选。）

激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

计算机系统配置 IBM计算机

惠普或爱普生或佳能彩色喷墨打印机

分析应用软件 操作系统：WindowsXP(OEM)中文平台

分析软件包： SmartLink FP软件包

－测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。

－基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。

样品种类： 镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92

可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

贵金属检测，如Au karat评价

材料和合金元素分析，

材料鉴别和分类检测

液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

多达4个样品的光谱同时显示和比较

元素光谱定性分析

－调整和校正功能 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能 鼠标激活测量模式：“Point ａnd Shoot”

多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式

测量位置预览功能

激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能 设定测量点

连续多点测量

测量位置预览

－统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、

数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图

数据分组、X-bar/R图表、直方图

数据库存储功能

任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书

－系统安全监测功能 Z轴保护传感器

样品室门开闭传感器