联系我们

联系人：何小姐

点击查看联系方式

产品展示

普通四探针方阻电阻率测试仪样品分析

点击次数：5295

价格：￥电议

更新日期：2026/6/30 17:21:23

生产地：中国大陆

产品型号：FT-330

简单介绍：普通四探针方阻电阻率测试仪样品分析, 本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能电阻率测试仪

相关标签：电阻率测试仪,方阻仪,四探针测试仪

详细内容

普通四探针方阻电阻率测试仪样品分析
适用范围

按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.
普通四探针方阻电阻率测试仪样品分析
产品功能

本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.电阻率测试仪电阻率测试仪
普通四探针方阻电阻率测试仪样品分析
参数规格

规格型号/ model	FT-341	FT-342	FT-343	FT-345	FT-346	FT-347
1.方块电阻	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω /□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.电阻率	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm
3.测试电流	0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA.μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA、1μA、10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.电阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.显示读数	屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
7.测试方式	双电测量
8.电源	输入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.误差	≤3%（标准样片结果）
10.选购功能	选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台；5.标准电阻.1
11.测试探头	探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

电阻率测试仪,方阻仪,四探针测试仪

采购记录

优质供应

我要推广

优质信息推广广告

友情链接
热词推荐

已获得阿仪网信誉等级评定

产品展示