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四探针电阻测试仪

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价格：￥电议

更新日期：2026/6/30 17:21:22

生产地：中国大陆

产品型号：FT-334

简单介绍：四探针电阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准

相关标签：四探针方阻测试仪,电阻率测试仪,方块电阻测试仪,四探针电阻测试仪

详细内容

本采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本

 浙江宁波硅单晶电阻率测定方法四探针电阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该

 产品特点：
本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.
产品优势：
液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
产品资料
1.规格型号FT-334
2.方块电阻范围10^-3～2×10³Ω/□
3.电阻率范围10^-4～2×10⁴-cm
4.测试电流范围10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
5.电流精度±0.3%读数
6.电阻精度≤0.5%
7.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
8.测试方式：普通单电测量
9.工作电源：输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
10.整机不确定性误差：≤4%（标准样片结果）
11.选购功能：选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台
四探针电阻测试仪

参照标准：

硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

三.适用范围：

适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用AD芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表

用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

四.型号及参数

规格型	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方块电阻范围	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.电阻率范围	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×105Ω-cm
测试电流范围	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA， 100mA	0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.电阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.显示读数	液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
7.测试方式	普通单电测量
8.工作电源	输入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.误差	≤4%（标准样片结果）
10.选购功能	选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台；5.标准电阻
11.测试探头	探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

还有如下相关产品：单电系列FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪、 FT-332普通四探针方阻电阻率测试仪、FT-333普通四探针方阻电阻率测试仪、FT-335普通四探针方阻电阻率测试仪、FT-336普通四探针方阻电阻率测试仪，双电系列FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪、FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪、FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪、FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪、FT-346双电测电四探针方阻电阻率测试仪、FT-347双电测电四探针方阻电阻率测试仪等，其测试范围都不同价格也不同。仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准四探针方阻电阻率测试仪本

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