联系我们
联系人：何小姐
粉末电阻率测试仪
- 粉末电阻率
- 粉末电阻率测试仪
- 粉末电阻率测定仪
- 粉末电导率测试仪
- 粉体电阻率
- 粉体电阻率测试仪
- 粉体电阻率测定仪
- 粉体电导率测试仪
- 粉尘电阻率测试仪
- 四探针粉末电阻率测试仪
- 颗粒电阻率测试仪
- 粉末电阻测试仪
- 粉体电阻测试仪
- 智能粉末电阻率测试系统
粉体特性综合测试仪
休止角测定仪
粉末流动性测定仪
- 霍尔流速计
- 粉末流动性
- 粉末流动性测试仪
- 粉末流动性测定仪
- 粉末流动测试仪
- 粉末流动测定仪
- 粉体流动性
- 粉体流动性测试仪
- 粉体流动性测定仪
- 粉体流动测试仪
- 粉体流动分析仪
- 粉体流动性分析仪
- 粉体流变仪
- 金属粉末流动性测试仪
- 金属粉末流动性测定仪
- 粉末流动性测定装置
- 粉体流动性测定装置
- 粉体剪切仪
安息角测定仪
表观密度测定仪
堆积密度测定仪
- 粉末堆积密度
- 堆积密度仪
- 堆积密度测定
- 堆积密度测定仪
- 堆积密度测试仪
- 粉体堆积密度测试
- 堆积密度计
- 自然堆积密度计
- 堆密度仪
- 堆密度测定仪
- 堆密度测定装置
- 堆密度计
- 容重测定仪
- 体积计
- 粉体堆积密度测定仪
压实密度仪
粉体松装密度测定仪
- 松装密度仪
- 松装密度计
- 松装密度测定仪
- 松密度仪
- 松装密度测试仪
- 松装密度测定
- 松装密度测定装置
- 重测定器
- 粉末密度测定仪
- 史考特容量计
- 斯科特容量计
- 斯柯特容量计
- 史考特松装密度仪
- 粉体松装密度测定仪
振实密度仪
表面和体积电阻率测试仪
四探针测试仪
- 四探针电阻率测试仪
- 四探针电阻测试仪
- 四探针方块电阻测试仪
- 四探针方阻仪
- 方块电阻测试仪
- 方阻仪
- 方阻计
- 四点探针测试仪
- 半导体电阻率测试仪
- 双电测四探针测试仪
- 涂层电阻率测试仪
- 薄膜电阻测试仪
- 手持四探针测试仪
- 四探针电导率测试仪
- 四探针表面电阻测试仪
- 四探针粉末电阻率测试仪
- 四探针法
- 四探针方阻/电阻率测试仪
材料电阻率测试仪
电压降测试仪
- 大电流电压降测试仪
- 交流电压降测试仪
- 直流电压降测试仪
- 开关压降测试仪
- 高精度电压降测试仪
- 插头电压降测试仪
- 端子电压降测量仪
- 线束电压降检测仪
- 电压降测试
- 多功能电压降测试仪
- 连接器电压降测试仪
- 电压降综合测试仪
- 电压降检测仪
- 接触压降试验仪
- 接触压降检测仪
- 线束电压降测试仪
- 触点电压降测试仪
- 继电器电压降测试仪
- 压接电压降
- 端子电压降测试仪
- 电压降测试仪
水分仪
密度计
粒度仪
电绝缘性测试仪
粉体强度测试仪
产品展示
四探针法粉末电导率测试仪
点击次数：4230
价格：￥电议
更新日期：2026/6/30 17:21:25
生 产 地：中国大陆
产品型号：FT-8100
详细内容
工作原理
已知量的粉体，在液压动力下压缩体积至设定压力值或压强，在线测量粉体电阻、电阻率、电导率，并记录数据.
解决粉体难压片成型或压片取出测量误差.
四探针法粉末电导率测试仪1. 锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求
2.四点探针法测试电导率的方法
四探针法粉末电导率测试仪1）四点探针测试仪参照GB/T 1551、GB/T1552-1995，ASTM F84美国A.S.T.M 标准。
2）四探针法粉末测试平台参照GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作.
适用范围：Applicable scope
锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料电阻率的测量；也应用于需要采用四探针法测量的导体或半导体粉末材料的分析与检测；也用于石墨类粉状材料电阻率的测量；应用于企业品质检测；研发部门，大中专院校；科研院所；及质量检测机构.
参数资料Parameters
| 规格型号 Specification model | FT-8100A | FT-8100B | FT-8100C |
| 1.方块电阻范围sheet resistance range | 10-5～2×105Ω/□ | 10-4～2×105Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ |
| 2.电阻率范围 resistivity range | 10-6～2×106Ω-cm | 10-5～2×106Ω-cm | 10-4～2×105Ω-cm |
| 3.电导率范围 Conductivity range | 5×10-6～106s/cm | 5×10-6～105s/cm | 5×10-5～104s/cm |
| 4.测试电流范围 test current range | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
| 5.电流精度 current accuracy | ±0.1%读数 | ±0.2%读数 | ±0.3%读数 |
| 6.显示读数 Display: | 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、电导率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率、压强 LCD: resistance, resistivity, sheet resistance, Conductivity temperature, unit conversion, temperature coefficient, current, voltage, probe shape, probe spacing, thickness, conductivity. pressure | ||
| 7.测试方式Test method: | 四探针普通单电测量 ordinary single electrical measurement | ||
| 8.模具选购Choose to buy mold: | choose to buy模具mold：内径inner diameter 10mm；20mm；高height 25mm ； | ||
| 9.压力选购 Choose to buy pressure: | 压力Pressure:0-1000kg； 0-200kg | ||
| 10. 模腔行程：Die cavity stroke: | 0-20mm（样品压实厚度建议在4mm内） Sample compaction thickness is recommended in 4mm | ||
| 11.高度表测量范围：Altimeter measurement range： | 0-12.7mm分辨率0.01mm; 选购：数显千分表Buy digital dial indicator0.001 | ||
| 12. 恒压时间：Constant pressure time: | 0-99.9s（需人工记录） | ||
| 13.误差： errors | ≤4.5%（平均性误差，人为因数外average error, except human factor） | ||
| 14.工作电源: Power supply: | 输入: AC 220V±10% ,50Hz <60W
| ||
| 选购: Choose ａnd buy | 1）PC软件1套； 1 sets of PC software 2）四探针探头及平台（固体半导体材料测量使用）Four probe probe head and platform 3）标准电阻。用于校准仪器 Standard resistance.Calibrated instrument 4）高度校准塞规1个Height calibrated plug gauge 1 pcs | ||
步骤及流程
1.运行高度清零
2.将称重样品装入模腔.
3.固定上电极旋钮.
4.在显示器上设置好参数.
5.达到设定压力或压强值.
6.读取样品压缩高度数据并输入.
7.获得电阻、电阻率、电导率数据.
8.记录数据.
9. 样品脱模
7. 测试结束.
