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日立荧光分布成像系统工作原理与应用场景

发布时间:2026/11/10 14:13:51       关注度:18
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日立荧光分布成像系统EEM View

一、荧光分布成像系统(EEM View)简介

作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等域。

荧光分布成像系统结构.png

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。

二、 荧光分布成像系统特点:

1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)

在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)


荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)

软件界面.png

2. 样品安装简单,适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!

丰富的样品支架

样品支架.png

支持精确测量的校正工具

标准和空白样品.png

荧光分布成像系统是一种全新的技术,新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。

日立科学仪器(北京)有限公司为您提供日立荧光分布成像系统EEM View的参数、价格、型号、原理等信息,日立荧光分布成像系统EEM View产地为日本、品牌为日立,型号为EEM View,价格为面议,更多相关信息可来电咨询,公司客服电话7*24小时为您服务

来源:武汉市艾德宝仪器设备有限公司




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