紫外可见分光光度计UV765/UV765(PC)大屏幕扫描型
通过简单的参数设定,方便地进行光度分析、定量分析、动力学分析、光谱扫描、多波长测试、DNA/蛋白质分析。
仪器特点:
1.采用新的ARM系统,内置中英文双操作系统,可通过USB接口存储转移数据。
2.功能强大,主机可独立完成光度测量、定量测量、光谱扫描、动力学、DNA/蛋白质测试,多波长测试及数据打印等功能。
3.仪器采用320*240点阵高亮6液晶显示器,直接显示扫描图谱,屏幕界面简单,方便使用。
4.设计独特的光学系统,高性能1200条/mm光栅和进口接收器确保仪器有优良的性能指标。
5.插座式氘灯和钨灯设计,换灯后免光学调试。
6.4位高速、高精度A/D转换,仪器精度高,反应速度快。
7.宽大的样品室,可容纳5-100mm各种规格的比色皿。
8.可直接连接打印机,打印图谱和实验数据。
9.内置中英文双语操作系统,使用方便。
10.通过佑科扫描软件可直接联机操作。
11.仪器可选配获得国家的圆盘旋转式自动八连样品架,可靠性好,光斑居中(相比双排自动八联架),从而仪器测光精度高。(号:ZL 2010 2 0562307.8)
技术指标:
型号 | UV765 | UV765PC |
波长范围 | 190-1100nm | 190-1100nm |
光谱带宽 | 1.8nm | 1.8nm(含软件) |
波长准确度 | ±0. lnm (D2 656. 1nm),±0.3nm全区域 | |
波长重复性 | ≤0.2nm | |
光度准确度 | ±0.002A(0-0.5A),±0.004A(0.5-1A),±0.3 %T (0~100 %T) | |
光度重复性 | ±0.001A(0-0.5A),±0.002A(0.5-1A),±0.1 %T (0~100 %T) | |
杂散光 | ≤0.05%T | |
稳定性 | ±0.0005A/h (500nm处) | |
基线平直度 | ±0.0015A | |
工作方式 | T, A, C, E | |
波长驱动 | 自动 | |
数据输出 | USB接口 | |
打印输出 | 并行口 | |
显示系统 | 320*240位高亮6”大屏幕LCD | |
光源 | 进口长寿命钨灯、氘灯 | |
检测器 | 进口硅光二及管 | |
重量 | 15kg | 18kg |
1采用最新的ARM系统,内置中英文双操作系统,可通过USB接口存储转移数据。
2.功能强大,主机可独立完成光度测量、定量测量、光谱扫描、动力学、DNA/蛋白质测试,多波长测试及数据打印等功能。
3.仪器采用320*240点阵高亮6液晶显示器,直接显示扫描图谱,屏幕界面简单,方便使用。
4.设计独特的光学系统,高性能1200条/mm光栅和进口接收器确保仪器有优良的性能指标。
5.插座式氘灯和钨灯设计,换灯后免光学调试。
6.4位高速、高精度A/D转换,仪器精度高,反应速度快。
7.宽大的样品室,可容纳5-100mm各种规格的比色皿。
8.可直接连接打印机,打印图谱和实验数据。
9.内置中英文双语操作系统,使用方便。
10.通过佑科扫描软件可直接联机操作。
11.仪器可选配获得国家专利的圆盘旋转式自动八连样品架,可靠性好,光斑居中(相比双排自动八联架),从而仪器测光精度高。(专利号:ZL 2010 2 0562307.8)
技术指标:
UV765 | UV765PC |
190-1100nm | 190-1100nm |
1.8nm | 1.8nm(含软件) |
±0. lnm (D2 656. 1nm),±0.3nm全区域 | |
≤0.2nm | |
±0.002A(0-0.5A),±0.004A(0.5-1A),±0.3 %T (0~100 %T) | |
±0.001A(0-0.5A),±0.002A(0.5-1A),±0.1 %T (0~100 %T) | |
≤0.05%T | |
士0.0005A/h (500nm处) | |
±0.0015A | |
T, A, C, E | |
自动 | |
USB接口 | |
并行口 | |
320*240位高亮6”大屏幕LCD | |
进口长寿命钨灯、氘灯 | |
进口硅光二极管 | |
15kg | 18kg |
型号 | UV765 | UV765PC |
波长范围 | 190-1100nm | 190-1100nm |
光谱带宽 | 1.8nm | 1.8nm(含软件) |
波长准确度 | ±0. lnm (D2 656. 1nm),±0.3nm全区域 | |
波长重复性 | ≤0.2nm | |
光度准确度 | ±0.002A(0-0.5A),±0.004A(0.5-1A),±0.3 %T (0~100 %T) | |
光度重复性 | ±0.001A(0-0.5A),±0.002A(0.5-1A),±0.15 %T (0~100 %T) | |
杂散光 | ≤0.05%T | |
稳定性 | 士0.0005A/h (500nm处) | |
基线平直度 | ±0.0015A | |
工作方式 | T, A, C, E | |
波长驱动 | 自动 | |
数据输出 | USB接口 | |
打印输出 | 并行口 | |
显示系统 | 320*240位高亮6”大屏幕LCD | |
光源 | 进口长寿命钨灯、氘灯 | |
检测器 | 进口硅光二极管 | |
重量 | 15kg | 18kg |
大屏幕扫描型紫外分光光度计UV765/UV765(PC) | |||||||||||||||||||||||
通过简单的参数设定,方便地进行光度分析、定量分析、动力学分析、光谱扫描、多波长测试、DNA/蛋白质分析。 仪器特点: 1采用最新的ARM系统,内置中英文双操作系统,可通过USB接口存储转移数据。 2.功能强大,主机可独立完成光度测量、定量测量、光谱扫描、动力学、DNA/蛋白质测试,多波长测试及数据打印等功能。 3.仪器采用320*240点阵高亮6液晶显示器,直接显示扫描图谱,屏幕界面简单,方便使用。 4.设计独特的光学系统,高性能1200条/mm光栅和进口接收器确保仪器有优良的性能指标。 5.插座式氘灯和钨灯设计,换灯后免光学调试。 6.4位高速、高精度A/D转换,仪器精度高,反应速度快。 7.宽大的样品室,可容纳5-100mm各种规格的比色皿。 8.可直接连接打印机,打印图谱和实验数据。 9.内置中英文双语操作系统,使用方便。 10.通过佑科扫描软件可直接联机操作。 11.仪器可选配获得国家专利的圆盘旋转式自动八连样品架,可靠性好,光斑居中(相比双排自动八联架),从而仪器测光精度高。(专利号:ZL 2010 2 0562307.8)
技术指标:
|
● 比例双光束,保证极好的稳定性。● 超低的杂散光,优异的波长精确度。● 高清晰度大屏幕LCD显示,流畅的人机对话操作。● 长寿命石英涂膜光学部件。● 常规测量功能:光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。● 显示和储存各种数据和图谱,支持专用打印机。● 自动校正功能,确保每次测量数据准确。● 自动寻找灯源最佳位置,独立灯室,灯源更换简单方便。● 大样品室,自动8联样品架。● 自诊断功能,随时检查仪器状态和性能。UV765CRT紫外可见分光光度计主要技术参数:● 波长范围:190nm~1100nm● 波长最大允许误差:±0.5nm● 波长重复性:≤0.2nm● 光谱带宽:2nm● 杂散光:≤0.05%(τ)(在220nm处,以NaI测定,在360nm处,以NaNO2测定)● 透射比测量范围:0.0%(T)~200.0% (T)● 吸光度测量范围:-0.301(A)~3.00(A)● 透射比最大允许误差:±0.3%(τ)● 漂移:≤0.001A/h● 透射比重复性:0.15%(T)● 基线平直度:±0.002A● 噪声:100%噪声≤0.15%(T) 0%噪声≤0.10%(T)● 扫描速度;快、中、慢
● 比例双光束,保证极好的稳定性。● 超低的杂散光,优异的波长精确度。● 高清晰度大屏幕LCD显示,流畅的人机对话操作。● 长寿命石英涂膜光学部件。● 常规测量功能:光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。● 显示和储存各种数据和图谱,支持专用打印机。● 自动校正功能,确保每次测量数据准确。● 自动寻找灯源最佳位置,独立灯室,灯源更换简单方便。● 大样品室,自动8联样品架。● 自诊断功能,随时检查仪器状态和性能。UV765PC紫外可见分光光度计主要技术参数:● 波长范围:190nm~1100nm● 波长最大允许误差:±0.5nm● 波长重复性:≤0.2nm● 光谱带宽:2nm● 杂散光:≤0.05%(τ)(在220nm处,以NaI测定,在360nm处,以NaNO2测定)● 透射比测量范围:0.0%(T)~200.0% (T)● 吸光度测量范围:-0.301(A)~3.00(A)● 透射比最大允许误差:±0.3%(τ)● 漂移:≤0.001A/h● 透射比重复性:0.15%(T)● 基线平直度:±0.002A● 噪声:100%噪声≤0.15%(T) 0%噪声≤0.10%(T)● 扫描速度;快、中、慢
UV765紫外可见分光光度计主要特点:
● 比例双光束,保证极好的稳定性。● 超低的杂散光,优异的波长精确度。● 高清晰度大屏幕LCD显示,流畅的人机对话操作。● 长寿命石英涂膜光学部件。● 常规测量功能:光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。● 显示和储存各种数据和图谱,支持专用打印机。● 自动校正功能,确保每次测量数据准确。● 自动寻找灯源最佳位置,独立灯室,灯源更换简单方便。● 大样品室,自动8联样品架。● 自诊断功能,随时检查仪器状态和性能。UV765紫外可见分光光度计主要技术参数:● 波长范围:190nm~1100nm● 波长最大允许误差:±0.5nm● 波长重复性:≤0.2nm● 光谱带宽:2nm● 杂散光:≤0.05%(τ)(在220nm处,以NaI测定,在360nm处,以NaNO2测定)● 透射比测量范围:0.0%(T)~200.0% (T)● 吸光度测量范围:-0.301(A)~3.00(A)● 透射比最大允许误差:±0.3%(τ)● 漂移:≤0.001A/h● 透射比重复性:0.15%(T)● 基线平直度:±0.002A● 噪声:100%噪声≤0.15%(T) 0%噪声≤0.10%(T)● 扫描速度;快、中、慢