MC016-760CRT双光束紫外可见分光光度计
MC016-760CRT双光束紫外可见分光光度计是引进吸收日本岛津技术基础上推出的自动记录分光光度计。特别适应于实验室的日常分析和研究工作的需要。
特点：□采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高。 □微机控制、绘图打印、自动记录。 □自动转换光源。 □可容易地获得者1-4光谱。 □具有自动扫描、时间扫描、波长程序、2入和3入测定、动力学测定、光谱存储等功能。□能与彩色CRT会话，用菜单形式来选择。 □光谱扫描和定量测定可同时进行。 □信息存储容量大，保存方便。 □有功能极强的光谱处理能力。 □可进行到底1-3曲线凝合，及异常点剔除。
技术指标： □波长范围：190-900nm □透射比度：优于±0.3%（用NBS930滤光片测定） □波长度：±0.3nm（内装自动波长校正装置） □分辨率：优于0.15nm □波长重现性：±0.2nm □离散光：优于0.08%（在220nm处Nal溶液） □波长扫描速度：FAST（高速）、M（中速）、SLOW（低速）以及ACC（累加），内装曲线不失真的自动消除装置 □光谱带宽：0.08-5nm 连续可变，每隔0.1nm用数字设定。
UV760CRT双光束紫外可见分光光度计主要特点：
● 采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。● 微机控制，自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。● 光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）● 功能极强的光谱处理能力。UV760CRT双光束紫外可见分光光度计软件特点：
● 信息存贮容量大，保存方便。● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。● 时间扫描可进行动力学研究。● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。● 软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同一样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。● 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。
UV760CRT双光束紫外可见分光光度计技术参数：
● 测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。● 波长范围：190nm～900nm● 分辩率：优于0.15nm● 光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调● 波长最大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）● 波长重复性：0.2nm● 杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）● 透射比最大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）● 透射比重复性：0.2%（T）● 扫描速度：快、中、慢● 稳定性：≤±0.004A/30min● 噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）
UV760CRT双光束紫外可见分光光度计主要特点：
● 采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。● 微机控制，自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。● 光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）● 功能极强的光谱处理能力。UV760CRT双光束紫外可见分光光度计软件特点：
● 信息存贮容量大，保存方便。● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。● 时间扫描可进行动力学研究。● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。● 软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同一样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。● 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。
UV760CRT双光束紫外可见分光光度计技术参数：
● 测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。● 波长范围：190nm～900nm● 分辩率：优于0.15nm● 光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调● 波长最大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）● 波长重复性：0.2nm● 杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）● 透射比最大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）● 透射比重复性：0.2%（T）● 扫描速度：快、中、慢● 稳定性：≤±0.004A/30min● 噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）
UV760CRT双光束紫外可见分光光度计主要特点：
● 采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。● 微机控制，自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。● 光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）● 功能极强的光谱处理能力。UV760CRT双光束紫外可见分光光度计软件特点：
● 信息存贮容量大，保存方便。● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。● 时间扫描可进行动力学研究。● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。● 软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同一样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。● 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。
UV760CRT双光束紫外可见分光光度计技术参数：
● 测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。● 波长范围：190nm～900nm● 分辩率：优于0.15nm● 光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调● 波长最大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）● 波长重复性：0.2nm● 杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）● 透射比最大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）● 透射比重复性：0.2%（T）● 扫描速度：快、中、慢● 稳定性：≤±0.004A/30min● 噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）
紫外可见分光光度计厂家供应四川地区紫外可见分光光度计型号报价紫外可见分光光度计价格, 提供品质优良的紫外可见分光光度计产品。成都苏净仪器长年经营：751GD紫外可见分光光度计、752N紫外可见分光光度计、754N紫外可见分光光度计、755B紫外可见分光光度计、UV759紫外可见分光光度计、UV759S紫外可见分光光度计、UV757紫外可见分光光度计、UV762 UV765 UV765CRT 760CRT紫外可见分光光度计等国内外知名紫外可见分光光度计。
紫外可见分光光度计的专业生产销售厂家:成都苏净科学器材有限公司。紫外可见分光光度计是成都苏净科学器材有限公司主推的品牌产品之一，历经市场检验，畅销全国！
UV760CRT双光束紫外可见分光光度计
技术指标：● 测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。● 波长范围：190nm～900nm● 分辩率：优于0.15nm● 光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调● 波长最大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）● 波长重复性：0.2nm● 杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）● 透射比最大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）● 透射比重复性：0.2%（T）● 扫描速度：快、中、慢● 稳定性：≤±0.004A/30min● 噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）
【产品概述】
界面友好、美观，操作简单，通过打印机可打印出图文合的分析报告,并可将图谱数据或测试数据传送Execl进行处理，可将图谱贴至Word中发表，仪器具有波长扫描、时间扫描、定量分析、定波长测试、多波长测试等功能，优异的性能。
【适用范围】
适合用于医药、药学、生物化学、环境保护、化学工业等实验室的日常分析和研究工作的需要。
【760CRT双光束紫外可见分光光度计特点】
★ 采用息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。
★ 微机控制，自动记录，打印机可在张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。
★ 光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）
★ 功能强的光谱处理能力。
★ 信息存贮容量大，保存方便。
★ 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。
★ 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。
★ 时间扫描可进行动力学研究。
★ 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。
★ 软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。
★ 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。
★ 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。
【760CRT双光束紫外可见分光光度计技术参数】
测光方式：双光束C-T式光路结构，息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。
波长范围：190nm～900nm
分辩率：优于0.15nm
光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调
波长大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）
波长重复性：0.2nm
杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）
透射比大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）
透射比重复性：0.2%（T）
扫描速度：快、中、慢
稳定性：≤0.004A/30min
噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）
主机尺寸和重量：560mm×480mm×190mm 35Kg
产品名称：双光束紫外可见分光光度计
产品型号：760CRT
760CRT双光束紫外可见分光光度计主要特点：
采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。
微机控制，自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。
光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）
功能极强的光谱处理能力。
软件特点：
信息存贮容量大，保存方便。
软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。
图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。
时间扫描可进行动力学研究。
定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。
软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同一样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。
可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。
打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。
双光束760CRT紫外可见分光光度计技术指标：
测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。
波长范围：190nm～900nm
分辩率：优于0.15nm
光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调
波长最大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）
波长重复性：0.2nm
杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）
透射比最大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）
透射比重复性：0.2%（T）
扫描速度：快、中、慢
稳定性：≤±0.004A/30min
噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）
| 产品型号 | 技术参数 |
| UV759 紫外可见分光光度计 | 波长范围：190-1100nm，波长准确度：±0.5nm，光谱带宽：2nm，杂散光≤0.05%T, 比例双光束结构,全自动操作,LCD显示（数据）,自动 调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能, 自动8联样品架，不带光谱扫描，有USB接口。配置软件后可与PC通讯,由PC全面操作 |
| UV759S 紫外可见分光光度计 | 波长范围：190nm-1100nm；波长准确度：±0.5nm；光谱带宽：2nm；杂散光≤0.05%T,；比例双光束结构；全自动操作；LCD显示（数据、图谱）；具有扫描功能；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能,；自动8联样品架；可进行光谱扫描；有USB接口；配置软件后可与PC通讯 |
| UV757CRT 紫外可见分光光度计 | 波长范围：200-1000nm；波长准确度：±0.5nm；光谱带宽：2nm；全自动操作；LCD显示（数据）；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能；具有RS232接口；由PC全面操作（附软件）；自动8联样品架， |
| UV757CRT/PC 紫外可见分光光度计 | CRT附电脑、打印机；技术指标同UV757 |
| UV765 紫外可见分光光度计 | 波长范围：190-1100nm；波长准确度±0.5nm；光谱带宽：2nm；杂散光≤0.05%T,；比例双光束结构；全自动操作；LCD显示（数据、图谱）；具有扫描功能；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能, 自动8联样品架；有USB接口,；配置软件后可可与PC通讯 |
| UV765CRT 紫外可见分光光度计 | 技术指标同UV765；带反控软件 |
| UV765PC 紫外可见分光光度计 | 技术指标同UV765；带电脑（含打印机）、反控软件、 |
| 760CRT双光束 紫外可见分光光度计 | 双光束C-T式光路结构；波长范围：190-900nm；波长准确度±0.3nm；光谱带 宽：0.08～5nm连续可调；杂散光≤0.08%T；测光方式：具有波长扫描、时间扫描、定量分析、多波长测定；附品牌电脑、喷墨打印附件 |
主要特点：● 采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。● 微机控制，自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。● 光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）● 功能极强的光谱处理能力。
软件特点：● 信息存贮容量大，保存方便。● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。● 时间扫描可进行动力学研究。● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。● 软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同一样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。● 打印机可进行参数与图谱打印、www.jinghua-apc.cm参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。
技术指标：● 测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。● 波长范围：190nm～900nm● 分辩率：优于0.15nm● 光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调● 波长最大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）● 波长重复性：0.2nm● 杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）● 透射比最大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）● 透射比重复性：0.2%（T）● 扫描速度：快、中、慢● 稳定性：≤±0.004A/30min● 噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）