二米平面光栅摄谱仪 31WIIA
31WIIA 二米平面光栅摄谱仪31WIIA光谱仪或二米平面光栅摄谱仪本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物井石）的日常定性定量分析，纯金属和材料的杂赞同鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。规格： 工作波段：200-1000nm摄谱仪焦距：F=2100mm相对孔径：1：28光栅：1200条/mm 2块 600条/mm 1块狭缝主要指标：宽度范围 0.002-0.3毫米 宽度分度值 0.001毫米 宽度再现性 0.001毫米 有效高度 10毫米波长显示:计数器（精度±1nm）外形尺寸:（长、宽、高）2400*1500*700mm重景：150kg 平面光栅摄谱仪 1台聚光镜组（一）连座子 1组（保护片4片）聚光镜组（二）连座子 1组燕尾导轨 1根暗盒240*90 2盒备用一只毛玻璃 1块8X放大镜 1只“十字盖” 1只调整透镜照明系统用I、II级光谱滤色片 各1组 装在小木盒内电极架YFR4000-04 YFR3000-03 BR4000 BR3000 BR2000 AR2000 BFR4000 AFR400 BFR3000 BFR2000 AFR2000 AW2000-01 AL2000-01 AR5000-10 AR5000-06 AR4000-06 AR4000-04（包括快速电极夹2付）1组 电极夹备用1付1200条mm可见光栅闪耀波长600nm 1块1200条/mm紫外光栅闪耀波长300nm 1块600条/mm紫外光栅闪耀波长300nm 1块使用说明书（连同标准样片） 1份谱线图 1套合格证 1份工作台 1套ADE-20交直流电弧发生器 1台太阳镜 1付安装工具（内六角板头） 1把装箱单 1份连接导线 5根保险丝0.5A 3只转椅 1把
一米平面光栅摄谱仪 31WIA
31WIA 一米平面光栅摄谱仪技术参数工作波段：200-850nm摄谱仪焦距：F=1050mm相对孔径：1：22 AC5010-06D AC4010-06D AC4010-04D AC4010-03D AC3010-03D AC3010-02D AC2010-02D AC5000-10D AC5000-06D AC4000-06 AC4000-04D AC4000-03D AC3000-03D狭缝主要指标：宽度范围 0.002-0.3毫米 宽度分度值 0.001毫米 宽度再现性 0.001毫米 有效高度 10毫米波长显示:计数器（精度±1nm）光栅：1200条/mm 2块外形尺寸:（长、宽、高）1300*1500（包括导轨在内）*600mm
仪器成套性31WIA平面光栅摄谱仪 1台聚光镜组（一）及其座子 1组（保护片4片）聚光镜组（二）及其座子 1组燕尾形导轨 1根暗盒240*90（mm） 2盒备用一只毛玻璃 1块8X放大镜 1只“十字盖” 1只调整透镜照明系统用I、II级光谱滤色片 各1组 装在小木盒内1200条/mm平行光栅（闪耀波长300nm） 1组1200条/mm平行光栅（闪耀波长600nm） 1组1800条/mm平行光栅（闪耀波长300nm） 1组太阳镜 1付电极架（包括快速电极夹2付） 1组 使用说明书（连同标准样片） 1份谱线图 1套合格证 1份工作台 1套ADE-20交直流电弧发生器 1台太阳镜 1付安装工具（内六角板头） 1把装箱单 1份连接导线 5根保险丝0.5A 3只转椅 1把
HIGFL10激光/LED测试用软件
可定制光纤光谱仪波长范围200nm－1700nm可选
HIGFL10激光/LED测试用软件
可定制光纤光谱仪波长范围200nm－1700nm可选
本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物矿井石）的日常定性量分析，纯金属和材料的杂质鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。
二．规格：
工作波段： 200nm～850nm
摄谱仪焦距： F=1050㎜
相对孔径： A=1：22
狭缝主要技术指标： 宽度范围0.002～0.3㎜ 宽度分度值0.001㎜
有效高度10㎜ 宽度再现性0.001㎜
波长显示： 计数器(nm)
光栅： 1200条/㎜光栅2块
外形尺寸：长×宽×高 1300×1500（包括导轨在内）×600㎜
重量： 100㎏
工作电源： 380V 50Hz 20A
220V 50Hz 20A