产品名称：紫外可见分光光度计
产品型号：UV757CRT
UV757CRT紫外可见分光光度计主要特点：
采用微机测量系统，T-A转换精确，自动调整0%（T）和调整100%（T），具有GOTOλ，自动8联样品架，自动扣除比色皿误差，浓度多点标定，斜率和截距设置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印机专用，另行选配）。
联机功能：
通过RS232串行接口，可利用上层软件作全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程（1次、2次、3次），多波长测试，并大大扩展测试功能（除主机功能外）。
紫外可见分光光度计UV757CRT技术指标：
波长范围：200nm～1000nm
光源：钨卤素灯12V20W（进口） DD2.5氘灯（进口）
接收元件：光电池
波长最大允许误差：±0.5nm
波长重复性：≤0.2nm
光谱带宽：2nm
杂散光：≤0.3%（T）（在220nm处和360nm处，以NaNO2测定）
透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% （T）
吸光度测量范围：-0.301（A）～4.000（A）
透射比最大允许误差：±0.5%（T）
透射比重复性：≤0.2%（T）
噪声：100%噪声≤0.5%（T） 0%噪声≤0.2%（T）
稳定性：≤0.004A/30min
| 产品型号 | 技术参数 |
| UV759 紫外可见分光光度计 | 波长范围：190-1100nm，波长准确度：±0.5nm，光谱带宽：2nm，杂散光 ≤0.05%T, 比例双光束结构,全自动操作,LCD显示（数据）,自动 调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能, 自动8联样品架，不带 光谱扫描，有USB接口。配置软件后可与PC通讯,由PC全面操作 |
| UV759S 紫外可见分光光度计 | 波长范围：190nm-1100nm；波长准确度：±0.5nm；光谱带宽：2nm；杂散光 ≤0.05%T,；比例双光束结构；全自动操作；LCD显示（数据、图谱）；具有扫 描功能；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能,；自动8联 样品架；可进行光谱扫描；有USB接口；配置软件后可与PC通讯 |
| UV757CRT 紫外可见分光光度计 | 波长范围：200-1000nm；波长准确度：±0.5nm；光谱带宽：2nm；全自动操作；LCD显示（数据）；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能；具有RS232接口；由PC全面操作（附软件）；自动8联样品架， |
| UV757CRT/PC 紫外可见分光光度计 | CRT附电脑、打印机；技术指标同UV757 |
| UV765 紫外可见分光光度计 | 波长范围：190-1100nm；波长准确度±0.5nm；光谱带宽：2nm；杂散光 ≤0.05%T,；比例双光束结构；全自动操作；LCD显示（数据、图谱）；具有扫描 功能；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能, 自动8联样 品架；有USB接口,；配置软件后可可与PC通讯 |
| UV765CRT 紫外可见分光光度计 | 技术指标同UV765；带反控软件 |
| UV765PC 紫外可见分光光度计 | 技术指标同UV765；带电脑（含打印机）、反控软件、 |
| 760CRT双光束 紫外可见分光光度计 | 双光束C-T式光路结构；波长范围：190-900nm；波长准确度±0.3nm；光谱带 宽：0.08～5nm连续可调；杂散光≤0.08%T；测光方式：具有波长扫描、时间 扫描、定量分析、多波长测定；附品牌电脑、喷墨打印附件 |
UV757CRT紫外可见分光光度计主要特点：采用微机测量系统，T-A转换精确，自动调整0%（T）和调整100%（T），具有GOTOλ，自动8联样品架，自动扣除比色皿误差，浓度多点标定，斜率和截距设置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印机专用，另行选配）。联机功能：通过RS232串行接口，可利用上层软件作全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程（1次、2次、3次），多波长测试，并大大扩展测试功能（除主机功能外）。UV757CRT紫外可见分光光度计主要技术参数：
● 波长范围：200nm～1000nm● 光源：钨卤素灯12V20W（进口） DD2.5氘灯（进口）● 接收元件：光电池● 波长最大允许误差：±0.5nm● 波长重复性：≤0.2nm● 光谱带宽：2nm● 杂散光：≤0.3%（T）（在220nm处和360nm处，以NaNO2测定）● 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度测量范围：-0.301（A）～4.000(A)● 透射比最大允许误差：±0.5%（T）● 透射比重复性：≤0.2%（T）● 噪声：100%噪声≤0.5%（T） 0%噪声≤0.2%(T)● 稳定性：≤0.004A/30min其它：● 电源：AC220V±22V 50Hz±1Hz
UV757CRT紫外可见分光光度计主要特点：采用微机测量系统，T-A转换精确，自动调整0%（T）和调整100%（T），具有GOTOλ，自动8联样品架，自动扣除比色皿误差，浓度多点标定，斜率和截距设置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印机专用，另行选配）。联机功能：通过RS232串行接口，可利用上层软件作全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程（1次、2次、3次），多波长测试，并大大扩展测试功能（除主机功能外）。UV757CRT紫外可见分光光度计主要技术参数：
● 波长范围：200nm～1000nm● 光源：钨卤素灯12V20W（进口） DD2.5氘灯（进口）● 接收元件：光电池● 波长最大允许误差：±0.5nm● 波长重复性：≤0.2nm● 光谱带宽：2nm● 杂散光：≤0.3%（T）（在220nm处和360nm处，以NaNO2测定）● 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度测量范围：-0.301（A）～4.000(A)● 透射比最大允许误差：±0.5%（T）● 透射比重复性：≤0.2%（T）● 噪声：100%噪声≤0.5%（T） 0%噪声≤0.2%(T)● 稳定性：≤0.004A/30min其它：● 电源：AC220V±22V 50Hz±1Hz
UV757CRT紫外可见分光光度计主要特点：采用微机测量系统，T-A转换精确，自动调整0%（T）和调整100%（T），具有GOTOλ，自动8联样品架，自动扣除比色皿误差，浓度多点标定，斜率和截距设置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印机专用，另行选配）。联机功能：通过RS232串行接口，可利用上层软件作全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程（1次、2次、3次），多波长测试，并大大扩展测试功能（除主机功能外）。UV757CRT紫外可见分光光度计主要技术参数：
● 波长范围：200nm～1000nm● 光源：钨卤素灯12V20W（进口） DD2.5氘灯（进口）● 接收元件：光电池● 波长最大允许误差：±0.5nm● 波长重复性：≤0.2nm● 光谱带宽：2nm● 杂散光：≤0.3%（T）（在220nm处和360nm处，以NaNO2测定）● 透射比测量范围：0.0%（T）～200.0% (T）● 吸光度测量范围：-0.301（A）～4.000(A)● 透射比最大允许误差：±0.5%（T）● 透射比重复性：≤0.2%（T）● 噪声：100%噪声≤0.5%（T） 0%噪声≤0.2%(T)● 稳定性：≤0.004A/30min其它：● 电源：AC220V±22V 50Hz±1Hz