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SJ-301　表面粗度仪178系列SJ-301

三丰编号	规格
178-954A	X轴12.5mm Z轴±150m
标准配件：178-390 检出器 12AAA686 连接线 178-602 标准片 12AAA688 电池 12AAA216 支持架 357651 Ac变压器 12AAA217 平面滑桡 270732 记录线 12AAA218 圆面滑桡

三丰编号	规格
178-033	V型
178-034	滑动
178-035	内径
178-245A	SJ-201
178-246A	SJ-301
12AAA210	检出器用延长杆
12AAA303	检出器用延长线
12AAA841	记忆卡
12AAA876	高耐久记录纸
264-504A	DP-1VR处理机
936937	1M	信号线
965014	2M

SJ201表面粗度仪SJ201

表面粗度仪SJ201

表面粗度仪SJ301

型号

SJ-201

SJ-301

货号:	100VAC120VAC230VAC240VAC

178-950K/178-948K＊

178-953K/178-952K＊

178-950A/178-948A＊

178-953A/178-952A＊

178-950D/178-948D＊

178-953D/178-952D＊

178-950E/178-948E＊

178-953E/178-952E＊

平移范围

12.5MM

测量范围

300um(±150um)

驱动／检测元件

探测仪:178-390/178-395＊

测头:金刚石(测头半径:5um/2um＊)

测量力:4mN/0.75mN＊

探测方式:徽感应

评定轮廓

P,R

P,R,DIN4776 profile,Motif

估计参数

Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,R3Z,mr

Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,S,Pc,R3z,mr,δc,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,Lo,R,AR,Rx, A1,A2

取样长度

0.25,0.8,2.5mm

0.25,0.8,2.5,8mm

显示

LCD

LCD触式面板

打印机

——

热敏线型

放大倍数

——

自动

数据输出

通过接口输出

自动

电源

通过适配器／电池可充电

SV-3100S4日本三丰SV-3100S4表面粗度仪

測定範圍: X軸: 100mm
Z軸:800µm.80µm.8µm
真直度:0.5µm/100mm 解析度: X軸: 0.1µm, 0.01µm/800µm Z 軸: 0.001µm/80µm,0.0001µm/8µm
測定力:0.75mN
測針:觸針(鑽石): 圓錐90 尖端曲率半徑: 5µm skid(超硬) 曲率半徑: 40mm
測定速度:驅動速度: 0.02~2 mm/s(7階段) 後退速度:5mm/s 定位速度: 0.1~2 mm/s(搖桿操作時)手動
驅動部移動範圍: Z軸300mm
數值輸出:RS-232C
使用溫度範圍: 15~25℃
電源: AC100~240V
SURFPAK軟體

技术参数X 轴　测量范围: 100mm 或 200mm　分辨率: 0.05µm　检测方法: 线性编码器　驱动速度: 0 - 80mm/s　测量速度: 0.02 - 5mm/s　移动方向: 向后　直线度: （0.05+1L/1000）µm*（0.5µm/200mm: 测量范围为200mm的型号）　倾角范围: ±45ºZ2 轴（立柱）　垂直移动: 300mm 或 500mm、动力驱动　分辨率: 1µm　检测方法: ABSOLUTE 线性编码器　驱动速度: 0 - 20mm/s检测器　范围／分辨率: 800µm / 0.01µm, 80µm / 0.001µm,8µm / 0.0001µm （使用测头选件时，最大可达2400µm）　检测方法: 无轨／有轨测量　测力: 4mN 或 0.75mN （低测力型）　测针针尖: 金刚石、90º / 5µmR（60º / 2µmR: 低测力型）　导头曲率半径: 40mm　检测方法: 差动电感式基座尺寸（W x H）: 600 x 450mm 或 1000 x 450mm基座材料: 花岗岩尺寸（W x D x H）: 756 x 482 x 966mm （S4 型）756 x 482 x 1166mm （H4 型）1156 x 482 x 1176mm （W4 型）766 x 482 x 966mm （S8 型）766 x 482 x 1166mm （H8 型）1166 x 482 x 1176mm （W8 型）重量 140kg （S4, S8 型）150kg （H4, H8 型）220kg （W4, W8 型）*L 为驱动长度（mm）评估能力: SURFPAK-SV评估轮廓　P （主轮廓）, R （表面粗糙度轮廓）, WC, WCA, WE, WEA, 　　　DIN4776 轮廓、包络残余线、粗糙度 motif、波形 motif评估参数　Ra, Rq, Rz, Ry, Rz（JIS）, Ry（DIN）, Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,　Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc （Ppi）, Sm, HSC, mr, δc, plateau ratio,　mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Δa, Δq, λa, λq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1,　A2　粗糙度 motif 参数: Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX, CPM　波形 motif 参数: Wte, Wx, W, AW SW, SAW, NW分析图表　ADC, BAC1, BAC2、功率谱图、自相关图、Walsh 功率谱图、Walsh 自相关图、倾斜分布图、局部峰值分布图、参数分布图滤波类型 2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% （相位校正）,　2CR-50% （相位校正）, 高斯-50%截止波长*　λc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm　fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm　fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm取样长度（L）*　0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm取样长度　倾斜补偿、R 平面（曲面）补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、　双曲线补偿、二次曲线自动补偿、多项式补偿、　多项式自动补偿* 可在0.025mm 至最大移动长度间指定任意长度。

该公司产品分类：形状类光学仪器

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