ICT-33CICT-33C集成电路测试仪

产品特点:
·               器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。
·               器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断 其型号。
·               器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。
·               器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致,引脚排列一致的器件型号。
·               电压调节选择:3V5V9V15V
·               内部RAM数据修改:ICT-33C可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。
·               EPROMEEPROM器件读入:ICT-33C可将64K以内的EPROMEEPROM 件内的数据进行读入并保存。
·               EPROMEEPROM器件写入:ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K 以内的EPROMEEPROM器件中,并自动校验。
·               新增RS232接口,与PC通讯,互送资料。
技术规格:可测1300
·               CMOS40系列:103种。  ·               CMOSMCI40系列:103种。 ·               CMOS45系列:60种。  ·               CMOSMCI45系列:60种。 ·               光耦合器系列:133种。 ·               TTL74/54系列:714种。 ·               数码管系列: ·               TTL75/55系列:82种。 ·               常用RAM系列:22 ·               EEPROM系列:6 ·               EPROM系列:6 ·               微机电路系列:31 ·               常用单片机系列:16  ·               其他系列:40    

 

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