ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪(EDXRF)
Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。
专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可程度提高各种元素分析应用的分析量。
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。
的技术
独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器
数字脉冲处理 (DPP) 技术
高性能、多元素分析
主要功能
出色的痕量分析灵敏度
高分析量的进程控制
适用于异常材料的高级分析算法
出色的样品处理灵活性
机械简化和灵活性
占地面积小、易于运输以进行野外测量
快速、简易的安装以及可完全现场定制
随附完整的实验室启用套件
经验证的硬件和全套软件
现场、协同方法开发
完整的技术应用支持
汇集了数百种应用的专业知识
功能强大、易于使用的 WinTrace*软件
无标和半无标分析
基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
多层厚度及成分
不限元素、不限数量的标样
利用自动化操作实现多个激发条件
可用于：
悬浮颗粒物过滤器
符合 RoHS 及 WEEE 的分析
法医及痕量分析
营养补充剂
磁性介质和半导体
土壤污染
过滤器上的薄膜
塑料中的有毒元素
关键词：ARL QUANTX X射线荧光能谱仪(EDXRF)
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