磁悬浮吸附解析分析仪特有的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。
XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。
XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。
产品特点
外部感知技术，把敏感元件置于天平室外部，允许腐蚀性和易燃气体的操作
几何对称、精密设计的微量天平
内部容积*小化
大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg
宽动态称量范围（0-200毫克）
操作压力高达200bar
单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量
无需重新归零或原位校准
采用IGA特有的终点预测方法
全金属结构由高品质的VCR装配
模块化设计，与所有配件兼容且可升级
产品应用
XEMIS的应用领域:
气体吸附分析
等温线的测定
动力学分析
热力学研究
储氢
甲烷存储
二氧化碳封存
气体的分离与纯化
超临界气体吸附
页岩气和煤层沼气研究
离子液体中的气体溶解度测量
化学吸附研究
化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)
金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架
活性炭、碳分子筛和模板碳
沸石和沸石类物质
多孔聚合物
该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。
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