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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

产品属性本产品采购属于商业贸易行为

市场价格：电议
产品型号：
更新时间： 2012/3/8 16:46:51
生产地：日本
访问次数： 860次

公司名称： 美国安普科技中心

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企业档案

美国安普科技中心

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企业类型：经销商

公司地址：北京朝阳区裕民路12号华展国际公寓A201室

主营产品：

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产品简介

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

详细内容

公司简介

技术参数

1.空间分辨率：使用25千伏Ga脉冲离子束，使用PHI提供的监测结构，空间分辨率*120 nm
2.质量精确度: 在小于m/z = 100情况下，*2 mamu，在大于m/z = 100，<10 ppm
3.传输率: 40%的原子，90%的分子，数值由离子光学模拟计算得出。

主要特点

1.标准配置In,Ga离子枪，还可以选配Cs/O离子源和Au离子源
2.高灵敏度，高成像清晰度，无阴影效应
3.动态范围宽

关键词：离子质谱仪离子质谱

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