x射线荧光测厚仪x射线荧光XD测厚仪技术指标 型号:XD-1000相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元
x射线荧光测厚仪
x射线荧光XD测厚仪技术指标
型号:XD-1000
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
计算机及喷墨打印机
x射线荧光XD测厚仪性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护
关键词:
XD-1000 X荧光测厚仪
深圳市邦鑫科仪技术开发有限公司是一家波长及能量X
荧光光谱仪的专业维修和销售的公司。 我们不是zui便宜的,但我们是zui专业的。 我公司本着热情,诚信和专业的技术水平和态度,为广大客户提供超高性价比的WDX(波长)元素荧光仪,ROHS测试
仪器,无卤素的ROHS检测仪器,专业维修天瑞仪器各个类型的仪器。主要提供的服务如下:1.天瑞仪器的EDX1800B/EDX1800E/EDX2800/EDX1800/EDX3000B/EDX3000/EDX4500H/EDX3600B/BX200/BX400/WDX200/WDX400等等各种型号仪器的维修。2.德国Fischer膜厚仪,电源/放大器/高压控制板/计数管/摄像头/影视卡板/光管/主控板的维修更换。3.更换原装正品高压电源、X光管、进口SI-PIN探测器等重要核心部件。精修国内其它品牌光谱仪。4.升级卤素,进口英国牛津铍窗光管,软件升级,工作曲线的校正,仪器年检。 仪器使用过程中的问题解答,凡是维修过程中所更换下配件,保修期为一年,无偿的免费的优质的服务。(提供终身的技术支持和维修和最高效优质的技术维修服务,4-24小时响应处理问题和上门判断。让贵司享受到专业快捷的服务.
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