三坐标测量仪产品及厂家

QVI Itaca FlexGauge为您定制的测量解决方案
成立于1996年itaca srl公司,一直致力于坐标测量仪器软硬件技术的开发。从坐标测量仪器软件发展的初期,itaca就得到长足的发展升,并始终将处于坐标测量仪主流地位的探测器、控制器、业硬件和软件整合,直接针对计量市场或我们的oem进行设计生产。全球化的合作,以及研和发有针对性的新一代坐标测量仪产品线,因其独t性将itaca推向国和际市场的面。
更新时间:2024-05-16
QVI FlexPoint™ 111/212小型零件测量仪
新的 qvi flexpoint 111 / 212 是高精度的柔性接触式测量系统。可以定制测量客户的难以测量的零件和精密的小型零件。
更新时间:2024-05-16
Itaca_FlexGauge-C35中型复杂零件测量仪
itaca柔性测量解决方案,总部在意大利都灵,从事通过触发式探针实现定制测量系统和配套软件的应用。 itaca的flexgauge系统相比传统的测量装置,拥有性能和成本的独t优某势。
更新时间:2024-05-16
高精光学影像测量仪 VIEW Summit 450/600/800
summit系统非常适用于测量有较高精度需求的大型部件,比如锡膏印刷屏模具、印刷电路板、柔性电路以及微蚀刻部件 summit系统测量范围大,精度高,450/600可以选择伺服马达驱动平台,也可以是线性马达驱动平台。summit800采用高精度滚珠螺杆和伺服马达驱动系统 summit系统适用于对精度要求高的尺寸测量,如锡膏模板和屏幕,工艺品,
更新时间:2024-05-16
精密光学影像测量仪 VIEW BenchMark 250
benchmark 250 是一款应用广和泛的量测系统,拥有测量大模型所有尺寸的性能,行程300x150x150 mm。benchmark可测产品范围大,可用于q/a lab检测。benchmark 250 拥有高精度x-y 工作台,view特有的双重光学放大性能,安装可选激光传感器使其成为一款更完美的测量系统。
更新时间:2024-05-16
精密光学影像测量仪 VIEW MicroLine 300
microline 系列 主要用于测量半导体、mems 晶圆、光刻掩模板等尺寸和涂覆物(多层套刻、圆、对接误差等)量测。microline 临界尺寸测量系统设计应用于半导体和mems晶圆以及光掩模cd量测。microline 系列可自动测量线宽,迭置重合,和其他关键尺寸。microline 装备有高性能光学显微镜,高精度运动平台,可测量0.5 微
更新时间:2024-05-16
Itaca_C-100 长轴杆回转体综合测量仪
itaca柔性测量解决方案,总部在意大利都灵,从事通过触发式探针实现定制测量系统和配套软件的应用。 itaca的flexgauge系统相比传统的测量装置,拥有性能和成本的独t优s。
更新时间:2024-05-16

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