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禾苗E8X射线荧光测厚仪

点击次数:132发布时间:2020/3/10

禾苗E8X射线荧光测厚仪

更新日期:2020/3/10 14:24:25

生 产 地:

产品型号:禾苗E8

简单介绍:● 镀层分析:各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析;镀层元素含量分析● RoHS /ELV指令测试元素:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬)、Br(溴)●无卤检测:测试元素:Br(溴)、Cl(氯);●合金分析:钢铁。

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仪器规格:

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