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技术文章

HCCT-40H 电容器温度特性评估系统在 MLCC 多层陶瓷电容器温变特性批量测试中的应用

点击次数:17 发布时间:2026/10/22 10:54:33

HCCT-40H电容器温度特性评估系统在MLCC多层陶瓷电容器温变特性批量测试中的应用

MLCC多层陶瓷电容器在整机工作时会经历宽温度波动,容量、损耗随温度的变化直接决定电路工作稳定性。传统单通道LCR搭配温箱,一次仅能测试少量样品,多只器件对比试验耗时长,样品与温度数据无法自动同步。HCCT-40H多通道评估系统,可同步批量监测多颗MLCC,完成温度特性评价试验。

一、传统MLCC温变测试痛点

单通道测试,单次只能测1-2只样品,大批量对比试验周期长,试验效率低。

LCR仪表与温箱相互单独,电学数据、温度数据需要后期手动对齐,容易产生时序错位。

缺少专用SMD夹具,贴片MLCC装夹繁琐,接触不佳会引入测量误差。

需要人工记录每个温度节点的容量、损耗,数据整理绘图工作量大。

二、MLCC温度特性测试方案

HCCT-40H系统可扩展至多64测量通道,交流四端对测量,配套SMD贴片器件专用夹具;与高低温试验箱联动,温控与电学测量时序同步。选择温度特性评价模式,随温箱升降温自动采集每一路MLCC的电容量C、损耗因子D,温度采集间隔1℃,自动记录参数随温度变化曲线。64通道可在1分钟内完成一轮扫描,数据实时图形化展示,导出原始数据便于分析。

三、研发质检价值

同时完成多批次、多规格MLCC温变特性比对;验证产品是否满足规格书温度特性指标;筛选温度稳定性的MLCC型号,为通信设备电路器件选型提供批量测试依据。


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