在晶圆制造中，超纯水承担清洗、冲洗与药液配制等任务。水中的微小颗粒随水流附着到晶圆表面后，可能在图形线条之间形成桥连、断线或针孔，也可能在栅氧层中留下缺陷，进而影响器件电学性能与良率。正因如此，超纯水的颗粒水平需要被持续测量，而不是仅在系统验收时抽测一次。普洛帝作为油液颗粒检测领域技术创新者，针对纯水与超纯水介质推出PMT-2超纯水颗粒计数器，为制程水质管控提供可追溯的颗粒数据。
半导体水质要求
随着制程节点推进，影响良率的“杀手颗粒”尺寸不断下移，颗粒管控的粒径门槛已进入亚微米乃至0.1μm量级。SEMI F63《Guide for Ultrapure Water Used in Semiconductor Processing》按制程线宽给出超纯水水质的颗粒控制建议，要求以单位体积内的颗粒计数表达洁净度。对产线而言，单次合格数据不足以说明系统稳定，连续趋势更能反映抛光混床、超滤与终端过滤器的运行状态。
颗粒也不是孤立指标。电阻率下降、TOC升高与颗粒数上升同时出现时，往往指向树脂破损、管路滋生或过滤器失效。将颗粒数据与这些指标并列观察，有助于缩小排查范围。
检测方案
PMT-2采用光阻法（光消光）原理：样品通过光学检测池，颗粒遮挡激光束形成脉冲，脉冲幅度对应粒径，脉冲数量对应颗粒数。该方法适用于低浓度、小微粒的液体样品，是超纯水颗粒计数的常用手段。
设备配置双激光窄光传感器，两组光路同步扫描，可减少单光路遮挡与杂光带来的漏计；柱塞泵与电磁流量控制组成双流量系统，保持进样流速恒定，降低流量波动导致的重复计数或漏检。在线模式接入管路旁路，连续采集使用点数据并支持超限提示；离线模式用于系统验收、滤芯更换后的冲洗确认与异常复核。
检测方法与计数效率验证可对照SEMI F63、SEMI C77（30nm至100nm液体颗粒计数器计数效率测试方法）及ISO 21501-3执行；仪器按JJG 1061或乳胶球、ISO 21501系列进行标定，保证粒径通道与计数结果的可追溯性。
设备选型表
表1超纯水颗粒检测配置建议
应用场景 | 推荐配置 | 粒径范围 | 主要标准依据 |
制备系统与使用点在线监测 | PMT-2超纯水版，在线旁路接入 | 0.1μm～100μm，通道可自定义 | SEMI F63、ISO 21501-3 |
系统验收与离线抽检 | PMT-2超纯水版，离线取样 | 0.1μm～100μm，通道可自定义 | SEMI F63、SEMI F75 |
计数器计数效率验证 | PMT-2配标准乳胶球 | 按验证粒径设置通道 | SEMI C77、ISO 21501-3 |
产线应用
晶圆厂的超纯水使用点多、管路长。可将在线监测点布置在抛光混床出口、超滤出口与清洗机进水端，形成从制备到使用的分段监控：末端颗粒数升高而制备端正常，通常指向输送管路或使用点阀门；两端同步升高，则需检查水源与过滤单元。
更换终端过滤器后，通过离线检测确认冲洗水量是否足够，可避免残留颗粒进入制程；把颗粒趋势与清洗机报警、缺陷检测结果并列复盘，有助于判断某类缺陷是否与水质相关。
超纯水颗粒管控是一项持续性工作，既需要符合标准的方法，也需要稳定的取样与数据管理。PMT-2超纯水颗粒计数器以双激光检测与双流量控制适配纯水介质，检测过程不引入二次污染，可用于半导体产线的日常监测与异常排查。
第16年
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