1. X线源:油浸式小型微小焦点X线管. 50KV管电压,可变管电压。

2. 照射方式：由上而下垂直照射方式。

3. 检出器：比例计数管。

4. 滤波器：采用 Co 和 Ni 双滤波器及数位式滤波器,可单一或同时使用。

5. 准直仪：Collimator 采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。

0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0 ψ㎜.

(选购) 0.05 ×0.5, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5 ψ㎜.

(选购) 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5 ψ㎜.

6. 样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。

7. 多能谱分析器：使用256高频分析器,光谱自动分析,在执行测量及运算时,非常快速。

贰. 计算机操作部:

8. 计算机系统：(仅供参考)

w 联想 兼容中文个人计算机.

w CPU：Intel Celeron 2GHz或以上.

w RAM：2GB或以上.

w DVD-ROM ×1.

w RS232串行通信接口

w Hard Disk：160 GB或以上.

w 19" 高画质显示屏.

9. 打印机：日本EPSON彩色喷墨式打印机。

10. 本机型(EX-731系列)之操作系统采中文视窗(Windows XP)对话式操作,非常简便。

参. 特性说明:

11. 测量项目：

w 单层膜厚测定.

w 2层膜厚测定.

w 3层膜厚测定.

w 合金膜厚成份比同时测定.

w 化学镍膜厚测定.

w 压铸锌底材上镀铜,镍二层膜厚同时测定.

w 元素的光谱峰值测定分析.

12. 测量材质：原子序22(Ti) ~ 82(Pb)为激发法测量。 原子序22以下为吸收法测量。

13. 测量范围：原子序22 ~ 24 , 约 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 约 0.1 ~ 30 um. 原子序41 ~ 51 , 约 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 , 约 0.05~ 10 um.

14.测量机能：

w 自动测定.

w 同一点重复测定机能

w 输出形式设定.

w 自动测定条件测定.

w 能谱测定.

w 2点间等距离测定.