AFM-III型MicroNano 原子力显微镜
AFM NanoFirst-2000原子力显微镜
仪器特点： 计算机全数字化控制，操作简捷直观。 步进马达自动进行针尖－－样品逼近，实验圆满成功。 深度陡度测量，三维显示。 纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。 Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域． 标准RS232串行接口,无需任何计算机卡 样品观测范围从0.001um-20000um。 扫描速度达40000点/秒 可选配纳米刻蚀功能模块。 技术指标 ：
AFM探头 样品尺寸：直径小等于30mm；厚度小等于15mm。 XY最大扫描范围：标准6X6微米 0.25nm 0.03nm(云母定标) XY二维样品移动范围：５mm；精度0.5微米 扫描器、针尖座智能识别 44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配) AFM电化学针尖块，液电池，液体轻敲式成像功能（选配） 全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台（选购） 电子学控制器： XTZ控制 18-Bit D/A 数据采样 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样 Z向反馈 DSP数字反馈 反馈采样速率 64.0KHz 高压放大器 集成高压运算放大器，最大电压范围+/-150V 频率范围 --- 幅度范围 --- 扫描速率 21Hz 扫描角度 0-360度 扫描偏移 任意 图像采样点 256X256或512X512 步进马达控制 手动和自动进退 计算机接口 标准RS232串行/USB
Dimension Icon。原子力显微镜 布鲁克（原veeco）
Dimension Icon 系列作为布鲁克公司（Bruker AXS） 原子力显微镜的旗舰产品，凝聚了多项的专利技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。 Dimension Icon 的出现为科学和工业界在纳米尺度的研究带来了革命性的之作。Dimension Icon 可以实现所有主要的扫描探针成像技术，其测试样品尺寸可达：直径210mm，厚度15mm。温度补偿位置传感器使Z-轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出前所未有的高分辨率。对于大样品、90微米扫描范围的系统来说，这种噪音水平超越了所有的开环扫描高分辨率的原子力显微镜。的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。探针和样品台的开放式设计使 Icon 可胜任各种标准和非标准的实验。
法国CSI原子力显微镜超高精度一体式扫描器
XY驱动分辨率：24位控制，0.06Am；
Z驱动分辨率：24位控制，0.006Am；
微弱的相干激光器：658nm波长，功率小于1mw。
升缩台的结构（专利技术）
有专利的伸缩放大台阶且低噪音的，三轴独立，原子台阶及分子分辨率，直到100µm扫描，
扫描分辨率X-Y：0.06nm，Z：0.006nm， 不像压电陶瓷管那样易碎而且伸缩有弓效果。
智能化AFM
a. 低噪声低功耗相干激光器
b.低噪音控制器（低电压驱动压电扫描器）
c.24位DAC控制（精密控制
d.最大100µm扫描（Z方向9µM ）
e.高分辨率的大范围扫描器
低噪音激光器和控制器+24位控制+伸缩台阶（专利技术）=完整的低噪音回路=一体式扫描器。大范围扫描，高分辨率，且无需更换扫描器。
自动设置和自动开关
1.自动调谐集成锁相（AC和单通KFM模式）
2.自动设置电子系统（无需使用者连接电缆或模块）
3.顶部和侧面视图（探针-样品趋近简单- >不会撞针）
4.直观的软件和预先配置的AFM模式
配置齐全AFM
易于使用（顶部和侧面的视图，直观的软件，触摸屏控制）
高达100µm范围扫描（Z方向9µM）
高分辨率
集成锁相（高灵敏度）
24位控制
多模式
接触/摩擦&振荡模式/相位
Conductive AFM（导电AFM）
PFM (压电响应)
MFM/EFM（磁力/静电力）
力调制
适用于不同环境的真实设计
EZ温度 : 温度控制，可达200°
对于压电器件可以进行更稳定的加热分离（不漂移）
与大气控制、液体模式和所有电模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容
大气控制（气体和湿度）
光电探测器和激光器在箱体外部（湿度控制不会造成电子件损害）
光电探测器和激光器可以正常对齐（不在一个盒子里解决- >没有盒子）
容易和快速设置
与电气测量模式是最佳的兼容(KFM, ResiScope…)
EZ液体：液体测量
压电保护
激光容易对准（可以利用顶部视频在空气中对准激光）
非常稳定的“振荡模式”的决方案
易于使用且更成功的原子力显微镜测量！
热测量
局部加热（探针）
或热测量
最佳的电气模块
HD-KFM :
在市场上有最好的分辨率和灵敏度（更好的算法，根据不同样品有两种模式，更好的锁相灵敏度…）
易用使用（自动调用智能算法，无需经验）
ResiScope :
10个数量级-从100Ω~1TΩ之间（竞争者最多只覆盖了7个数量级）
较低的电流流经探针/样品（不会局部氧化，不会因为高电流损害探针/样品）
同时兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式，且不会任何变动或丢失样品的位置！
Soft-ResiScope :
跟ResiScope一样，仍然有10个数量级，允许软性样品成像成像和电阻/电流测量。
CSI原子力显微镜应用领域
物理实验室：材料，高分子聚合物，电气特性，磁场，压电领域…
化学实验室：分子电子或组织。太阳能电池，电池，聚合物，电化学
半导体：研究和研发
多用途用户如：化学实验室+生物实验室
RTESPA-300 F 300 kHz K 40 N/m 轻敲探针原子力显微镜AFM探针
更多产品 www.labandmore.com
探针品牌
www.nanoworld.com
产品描述
全世界使用最广泛的、口碑最好的SPM、AFM探针，可适用于所有的市售SPM和AFM设备。 本包装为单组10个的高品质湿法刻蚀的硅探针，可用于轻敲模式™ ，动态模式和其他非接触模式检测。 所有的探针均为行业标准的硅SPM和AFM探针，可用于高灵敏度和高分辨率成像适用于各种样品类型的轻敲模式、动态模式或空气中的非接触模式检测。
Pointprobe®系列的所有SPM和AFM探针都是由高掺杂的硅片制成 。这种探针材料可以消散静电，并具有化学惰性，还可提供高灵敏 度的高机械Q因子。
该探针提供了以下特性：- 针尖曲率半径 < 8 nm- 高掺杂消散静电荷- 悬臂背面镀铝- 高机械品质因数确保高灵敏度
探针镀层
悬臂背面镀铝
探针参数
针尖:
-
shape:Rotated(symmetric) height:10 - 15 µm radius:8nm
悬臂梁:
-
shape:rectangular
-
length:125 µm (115 - 135 µm)*
-
width:28 µm (30 - 42 µm)*
-
thickness:4 µm (3.5 - 4.5 µm)*
-
force constant:40 N/m (20 - 80 N/m)*
-
resonance frequency:300 kHz (200 - 400 kHz)*
AFM原子力显微镜
原子力显微镜
晶体扫描仪(Crystal Scanner TM)是美国PNI公司开发的一种新颖的扫描仪。使用该扫描仪，无需知道更多扫描探针显微学(SPM)知识的人士便可获得纳米范围的形貌像。晶体扫描仪的核心是一种新型的无需复杂光路调整(Alignment)过程的力传感器。它能够进行纳米结构的成像和分析。 使用装有晶体扫描仪的Nano-R TM原子力显微镜(AFM)，工程师和科学工作者无需等候获得扫描的纳米结构图像，而是直接测量物体的形貌像。公司和研究机构也不用雇佣AFM专家，这样可为纳米技术的研究、发展和工艺控制节省大量的成本。 晶体扫描仪在纳米牛顿力测量领域内注入了新的设计理念。将该扫描仪与Nano-R TM型AFM的测试台和软件相结合，便可以得到一个新的用户友好接口的纳米成像仪器。尤其是，当配合点和扫描(Point & Scan TM)技术，将大大简化仪器的操作过程。
原子力显微镜
点和扫描技术 点和扫描技术大大减少了传统系统软件的复杂性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成测试。几步操作后，实验人员便可以在计算机屏幕上看到图像。 点和扫描技术使用标准的纳米成像操作步骤。步骤如下：
选择样品类型；
将样品放置于显微镜下；
如有必要，更换晶体传感器(只需几分钟)；
选择要扫描的样品区域；
成像操作。
上述的纳米成像过程同样可以分析DVD和半导体器件结构以及对纳米管、纳米粒子和纳米晶体进行高分辨的纳米成像。 点和扫描技术包括3个方面的创新性：晶体传感器，测试台的自动化和软件。
晶体传感器
晶体扫描仪里的力传感器是一种非常小的晶体振荡器，在其晶体的末端装有针尖，如图1和2所示。当探针靠近样品表面时，其振荡的振幅将衰减。衰减的幅度取决于探针和样品之间的作用力。扫描时，使用软件可以优化振荡频率和力的大小。使用时，晶体传感器无需任何力的调整。 
图1晶体扫描仪中的石英交叉晶体 图2晶体传感器安装在零插入力模块上
- 测试台自动化
的测试台自动化大大简化了装有晶体传感器的Nano-R TM型AFM的操作过程。结合马达驱动的光学系统、样品定位和探针-样品控制，无需任何手动调整。因此，便可以实现“放置样品-设定扫描区域-开始扫描”的简单操作过程。
晶体扫描软件
晶体扫描软件(CSS)大大简化了晶体扫描仪的操作。安装CSS后，实验人员便可以从窗口菜单上选择需要成像的样品类型。有关样品类型的信息可存储在计算机内，需要时可调用。例如，CSS可以使用设置的扫描参数。CSS与测试台自动化的相结合是一个强有力的工具。举例来说，当运行CSS时，样品台会自动移动到样品适于成像的位置。CSS也可以将样品进一步设置成适于视频光学记录的位置。 实验人员必须更换样品和探针。为了简化操作过程，几个视频系统集成于CSS中。这些配置有利于示意如何更换探针以及放置样品到成像的位置。软件接口如图3所示。 
图3软件接口
CSS软件的算法可用来判断探针的成像质量和优化扫描参数。对某些特殊的样品，这些算法的运用可设计成样品信息文件。
的扫描仪设计 使用移动探针的弯曲压电扫描仪设计可确保精确测量。这样，在x-y-z轴和图像间可测量最小的色度亮度干扰，以表明没有背底弯曲。 外置的x、y、z轴校准传感器可监视弯曲扫描仪的动作。这种传感器在x、y、z轴线性化和校准扫描仪显得非常必要。这些传感器对于点和位置测量也很有必要，对于图像中某个特殊形貌的放大应用也显得非常必要。晶体扫描仪的技术参数如表1。 表1? 晶体扫描仪的技术参数
| 范围 | 线性度 | 干扰 | 噪声 | |||
X-Y | 65 微米 | X-Y-Z | < 1% | XY | < 1% | Vertical < 0.1 nm |
Z | 8 微米 | ZX | < 2% | |||
ZY | < 2% | |||||
与光杠杆传感器的切换 常规的AFM使用光杠杆(Light Lever)来测量探针与样品之间的作用力。尽管光杠杆机构较为复杂且需要调光路，但也有一些优点。其主要优点是：可以进行材料敏感模式的测量，如侧向力或摩擦力像和相位移成像；另外，还可进行磁力和静电力成像。 Nano-R TM型AFM测试台可与光杠杆传感器兼容。只需几分钟便可切换光杠杆传感器和晶体传感器。切换安装后，光杠杆式AFM便可以进行接触或振荡模式的形貌像测量。
应用 使用晶体扫描仪的Nano-R TM型AFM可测量各种样品如工业样品和需要高分辨成像的纳米结构的形貌像。工业样品包括DVD、显微镜头、纸张、光栅和图形化的芯片。高分辨成像的纳米结构包括晶粒、纳米粒子、纳米晶体和纳米管。图4示出了一些使用晶体扫描仪的AFM形貌像。 
AFM原子力显微镜
原子力显微镜
晶体扫描仪(Crystal Scanner TM)是美国PNI公司开发的一种新颖的扫描仪。使用该扫描仪，无需知道更多扫描探针显微学(SPM)知识的人士便可获得纳米范围的形貌像。晶体扫描仪的核心是一种新型的无需复杂光路调整(Alignment)过程的力传感器。它能够进行纳米结构的成像和分析。 使用装有晶体扫描仪的Nano-R TM原子力显微镜(AFM)，工程师和科学工作者无需等候获得扫描的纳米结构图像，而是直接测量物体的形貌像。公司和研究机构也不用雇佣AFM专家，这样可为纳米技术的研究、发展和工艺控制节省大量的成本。 晶体扫描仪在纳米牛顿力测量领域内注入了新的设计理念。将该扫描仪与Nano-R TM型AFM的测试台和软件相结合，便可以得到一个新的用户友好接口的纳米成像仪器。尤其是，当配合点和扫描(Point & Scan TM)技术，将大大简化仪器的操作过程。
原子力显微镜
点和扫描技术 点和扫描技术大大减少了传统系统软件的复杂性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成测试。几步操作后，实验人员便可以在计算机屏幕上看到图像。 点和扫描技术使用标准的纳米成像操作步骤。步骤如下：
选择样品类型；
将样品放置于显微镜下；
如有必要，更换晶体传感器(只需几分钟)；
选择要扫描的样品区域；
成像操作。
上述的纳米成像过程同样可以分析DVD和半导体器件结构以及对纳米管、纳米粒子和纳米晶体进行高分辨的纳米成像。 点和扫描技术包括3个方面的创新性：晶体传感器，测试台的自动化和软件。
晶体传感器
晶体扫描仪里的力传感器是一种非常小的晶体振荡器，在其晶体的末端装有针尖，如图1和2所示。当探针靠近样品表面时，其振荡的振幅将衰减。衰减的幅度取决于探针和样品之间的作用力。扫描时，使用软件可以优化振荡频率和力的大小。使用时，晶体传感器无需任何力的调整。
图1晶体扫描仪中的石英交叉晶体 图2晶体传感器安装在零插入力模块上
- 测试台自动化
的测试台自动化大大简化了装有晶体传感器的Nano-R TM型AFM的操作过程。结合马达驱动的光学系统、样品定位和探针-样品控制，无需任何手动调整。因此，便可以实现“放置样品-设定扫描区域-开始扫描”的简单操作过程。
晶体扫描软件
晶体扫描软件(CSS)大大简化了晶体扫描仪的操作。安装CSS后，实验人员便可以从窗口菜单上选择需要成像的样品类型。有关样品类型的信息可存储在计算机内，需要时可调用。例如，CSS可以使用设置的扫描参数。CSS与测试台自动化的相结合是一个强有力的工具。举例来说，当运行CSS时，样品台会自动移动到样品适于成像的位置。CSS也可以将样品进一步设置成适于视频光学记录的位置。 实验人员必须更换样品和探针。为了简化操作过程，几个视频系统集成于CSS中。这些配置有利于示意如何更换探针以及放置样品到成像的位置。软件接口如图3所示。 图3软件接口
CSS软件的算法可用来判断探针的成像质量和优化扫描参数。对某些特殊的样品，这些算法的运用可设计成样品信息文件。
的扫描仪设计 使用移动探针的弯曲压电扫描仪设计可确保精确测量。这样，在x-y-z轴和图像间可测量最小的色度亮度干扰，以表明没有背底弯曲。 外置的x、y、z轴校准传感器可监视弯曲扫描仪的动作。这种传感器在x、y、z轴线性化和校准扫描仪显得非常必要。这些传感器对于点和位置测量也很有必要，对于图像中某个特殊形貌的放大应用也显得非常必要。晶体扫描仪的技术参数如表1。 表1? 晶体扫描仪的技术参数
| 范围 | 线性度 | 干扰 | 噪声 | |||
X-Y | 65 微米 | X-Y-Z | < 1% | XY | < 1% | Vertical < 0.1 nm |
Z | 8 微米 | ZX | < 2% | |||
ZY | < 2% | |||||
与光杠杆传感器的切换 常规的AFM使用光杠杆(Light Lever)来测量探针与样品之间的作用力。尽管光杠杆机构较为复杂且需要调光路，但也有一些优点。其主要优点是：可以进行材料敏感模式的测量，如侧向力或摩擦力像和相位移成像；另外，还可进行磁力和静电力成像。 Nano-R TM型AFM测试台可与光杠杆传感器兼容。只需几分钟便可切换光杠杆传感器和晶体传感器。切换安装后，光杠杆式AFM便可以进行接触或振荡模式的形貌像测量。
应用 使用晶体扫描仪的Nano-R TM型AFM可测量各种样品如工业样品和需要高分辨成像的纳米结构的形貌像。工业样品包括DVD、显微镜头、纸张、光栅和图形化的芯片。高分辨成像的纳米结构包括晶粒、纳米粒子、纳米晶体和纳米管。图4示出了一些使用晶体扫描仪的AFM形貌像。
NanoFirst-3000型轻敲式原子力显微镜
原子力显微镜——极高性价比
Innova SPM 扫描探针显微镜原子力显微镜
· 的信号读录与输入功能便于用户自己设计研究方法
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