仪器特点 :
计算机全数字化控制,操作简捷直观。 步进马达自动进行针尖--样品逼近,实验圆满成功。 深度陡度测量,三维显示。 纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。 X、Y二维样品移动平台,快速搜索样品区域. 标准RS232串行接口,无需任何计算机卡 样品观测范围从0.001um-20000um。 扫描速度达40000点/秒 可选配纳米刻蚀功能模块。 技术指标 :
STM探头 样品尺寸:厚度小等于15mm。 XY最大扫描范围:标准6X6微米 可选3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm Z向分辨率:0.01nm(HOPG定标) XY二维样品移动范围:5mm 样品-针尖白光照明 步进马达自动进行针尖-样品逼近(自动保护针尖) 全金属屏蔽防震隔音箱(选配) 精密隔震平台(选配) 电子学控制器 :
XTZ控制 18-Bit D/A 数据采样 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样 Z向反馈 DSP数字反馈 反馈采样速率 64.0KHz 高压放大器 集成高压运算放大器,最大电压范围+/-150V 频率范围 --- 幅度范围 --- 扫描速率 21Hz 扫描角度 0-360度连续可调 扫描偏移 任意 图像采样点 256X256或512X512 步进马达控制 手动和自动进退 计算机接口 标准RS232串行/USB
使用AFM工具的选项,pA-STM也可以用来进行AFM测试。