XRF-2000韩国Micro Pioneer金属镀层测厚仪,膜厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

 

我们的经营理念是:

1．我们以公平的价格提供质量的仪器。

2．对顾客提供的服务和极好的最适合的设备。

3．顾客提出的建议和新想法，将被我们采纳并作为我们未来的事务。

4．我们的目标和战略是与企业建立并且连续性的合作伙伴。

 

 

 

XRF-2000韩国Micro Pioneer金属镀层测厚仪,膜厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

 

我们的经营理念是:

1．我们以公平的价格提供质量的仪器。

2．对顾客提供的服务和极好的最适合的设备。

3．顾客提出的建议和新想法，将被我们采纳并作为我们未来的事务。

4．我们的目标和战略是与企业建立并且连续性的合作伙伴。

 

 

 

X射线金属镀层测厚仪 价格

    Micron X射线金属镀层测厚仪是一种专门应用于半导体材料和电子器件领域的检测设备。 检测区域为50m~500um. 通过CCD 可放大图像达300倍。通过高精密度样品台可提供元素面分布图。 可对多达6层的涂层或镀层进行逐层厚度测量。 MicronX 利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。 MicronX 可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。测定元素：Ti ～ U 。 其光束和探测器的巧妙结合加上的数字处理技术使得MicronX 能地解决您的应用。在度和重现性上具有的性能。 测量更小、更快、更薄 MicronX 比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套专利系统完成的。 更多详细资料，欢迎来电索取。

XRF-2000韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪

Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质

XRF-2000韩国Micr Pioneer 系列荧光金属镀层测厚仪

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

 

CMI243CMI243（手持式金属镀层测厚仪）

CMI243（手持式金属镀层测厚仪）

产品简介：    CMI243为专门针对量测磁性金属上面的镀层（如锌Zn、镍Ni、铬Cr、铜Cu、镉Cd）。CMI243为灵活便携式
及简单上手的仪器，只要接上一支测试头即可量测许多铁上的镀层厚度，测头配置微小探头即使对于小面
积也可以量测。使用基于相位涡电流技术量测提供此仪器更佳的度及精度和更人性化的使用。
CMI243降低了仪器成本，并排除了使用多种测试头校正标准片。       适用行业：
螺丝、紧固件、汽车零件、齿轮。       产品特色：
－－手提式非破坏测量
－－精度高、稳定性好
－－测量精度可与X-RAY媲美
－－可测量微型零件
－－RS-232连接阜，可将数据传输至打印机或计算机
规格说明：
－－量测范围 0.08~1.5mils （2~38um）
－－精确度 ±1%
－－分辨率 0.01mils（0.1µm）
－－最小底材厚度 12mils （0.35mm）
－－最小测试面积直径 2.286mm   －－最小曲率半径 1.2mm（凸）；1.5mm（凹）
－－校正方式 精密两点校正
－－显示屏 3位液晶显示屏，1/2英吋（1.27mm）高
－－单位 以按键切换公制（um）及英制（mils）单位选择
－－连接阜 RS-232连接阜，用于将数据传输至计算机或打印机
－－统计数据 量测点数、平均值、标准差、值、值、由打印机可输出直方图或CPK图
－－储存量 12400条读数
－－重量 9OZ（0.26Kg）含电池
－－尺寸 149*794*302 mm
－－电池 9伏干电池或可充电电池
－－打印机 任意竖式热感打印机
－－按键 密封膜，增强-16键

XRF-2000韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪

Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！

XRF-2000荧光金属镀层测厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

 

可选型号：

Type H : 测量一般工件

Type L :测量一般PCB/半导体产品

Type PCB :开放式设计，特大PCB适用

 

可测元素范围：

 

钛(Ti) – 铀(U)

 

测量厚度范围：

 

原子序数 22-25， 0.1-0.8μm

26-40， 0.05-35μm

43-52， 0.1-100μm

72-82， 0.05-5μm

 

X-射线管：油冷,超微细对焦

 

高压：0-50KV(程控)

 

准直器：

 

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

 

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

 

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析

 

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

 

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

 

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

 

光谱对比功能:可将样品光谱和标准件光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

 

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质

该公司产品分类： 超声波测厚仪

CMI243便携金属镀层测厚仪

CMI243便携金属镀层测厚仪
  • 便携式、无损测量各种金属镀层
  • 精度高、稳定性好，
  • 测量精度可与X射线测厚仪媲美
  • 可测量各种微型部件(φ2.5mm)
  • 232接口，可连接打印机或电脑

便携金属镀层测厚仪应用

CMI243金属镀层测厚仪可无损、精确测量各种金属镀层厚度，如 锌/铁、镍/铁、铬/铁、镉/铁、铜/铁等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc）。

便携金属镀层测厚仪行业

紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层

便携金属镀层测厚仪技术参数

误差 ±5%分辨率 0.1um

最小曲率半径 1.2mm(凸)；1.5mm(凹)最小测量面积 φ2.5mm最小基体厚度 0.35mm显示 3位LCD数显测量单位 um-mils可选校准方式 精密两点校准统计数据 平均值、标准偏差S、读数个数n(9,999个)

最大值max、最小值min

接口 232串口电源 1节9V电池仪器尺寸 150x80x30mm仪器重量 260g

CMI243便携金属镀层测厚仪

CMI243便携金属镀层测厚仪
  • 便携式、无损测量各种金属镀层
  • 精度高、稳定性好，
  • 测量精度可与X射线测厚仪媲美
  • 可测量各种微型部件(φ2.5mm)
  • 232接口，可连接打印机或电脑

应用

CMI243金属镀层测厚仪可无损、精确测量各种金属镀层厚度，如 锌/铁、镍/铁、铬/铁、镉/铁、铜/铁等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc）。

行业

紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层

技术参数

误差 ±5%分辨率 0.1um

最小曲率半径 1.2mm(凸)；1.5mm(凹)最小测量面积 φ2.5mm最小基体厚度 0.35mm显示 3位LCD数显测量单位 um-mils可选校准方式 精密两点校准统计数据 平均值、标准偏差S、读数个数n(9,999个)

最大值max、最小值min

接口 232串口电源 1节9V电池仪器尺寸 150x80x30mm仪器重量 260g

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