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高精度可控硅测试仪
ST-DC2000（250A）
可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数
（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主极输出 2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA
支持曲线扫描图示功能
高精度可控硅测试仪适用于军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途
⇒ 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
⇒ 失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
⇒ 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
⇒ 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
⇒ 产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）
曲线追踪仪（晶体管图示仪）功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线，可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数，典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB ａnd MOSFETRDSvs. VGS 等曲线数据。此外， 针对多条曲线，设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快，更简洁的创建曲线（单击，双击，选择输入菜单，单击）。就是这么简单。
设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力，在运行过程中，每个图表都是可视的，每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快，可进行数据记录，提供更高级的数据工具箱，能够运行多条曲线并自动排序，自动将数据存入 Excel 表格，具有缩放功能，光标重新运行功能以及其他许多优点。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
♦ 产品特点
| 序号 | 测试器件 | 测试参数 |
| 01 | IGBT | ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS |
| 02 | MOSFET / MOS场效应管 | IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS |
| 03 | J-FET / J型场效应管 | IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF |
| 04 | 晶体管（NPN/PNP） | ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF |
| 05 | DIODE / 二极管 | IR；BVR ；VF |
| 06 | ZENER / 稳压、齐纳二极管 | IR；BVZ；VF；ZZ |
| 07 | DIAC / 双向触发二极管 | VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
| 08 | OPTO-COUPLER / 光电耦合 | ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode) |
| 09 | RELAY / 继电器 | RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME |
| 10 | TRIAC / 双向可控硅 | VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH- |
| 11 | SCR / 可控硅 | IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH |
| 12 | STS / 硅触发可控硅 | IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW- |
| 13 | DARLINTON / 达林顿阵列 | ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON |
| 14 | REGULATOR / 三端稳压器 | Vout；Iin； |
| 15 | OPTO-SWITCH / 光电开关 | ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF |
| 16 | OPTO-LOGIC / 光电逻辑 | IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF |
| 17 | MOV / 金属氧化物压变电阻 | ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ； |
| 18 | SSOVP / 固态过压保护器 | ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- |
| 19 | VARISTOR / 压变电阻 | ID+； ID-；VC+ ；VC- |
关键词：可控硅测试仪 双向可控硅测试仪 硅触发可控硅测试仪
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