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说明：本套桌面式气体冲蚀试验机astm-g76 gas jet用于确定携带颗粒的气体射流对实验材料造成的磨损程度。实验材料可以是硬涂层和软涂层，也可以是整块材料。astm g76 gas jet空气射流冲蚀试验机利用控制腐蚀剂流量对试样经行冲击试验。该测试系统允许用户控制颗粒尺寸、冲击速度、入射角度、环境状况和温度。抬高的x轴导轨提供了超快动态性
更新时间:2025-07-02
干涉测量镜头可用在非接触光学压型测量设备上，通过此镜头可得到表面位图和表面测量参数等。也可用来检测表面粗糙度，测量精度非常高，在一个波长之内。一束光通过分光镜，可将光直接射向样品表面和内置反光镜。从样品表面反射的光线通过再结合，就产生了干涉图案。与mirau镜头比起来，michelson镜头拥有更长的工作距离，更宽的视场和更大的焦深。mirau镜头用在需要高倍率和/或大数值孔径的场合。采用niko
更新时间:2025-07-02
冲蚀磨损是由颗粒空气射流撞击在固体表面上的冲击而引起的。侵蚀导致的航空航天零部件，燃气轮机，锅炉和电厂的生命损失。为了限度地提高寿命，适当选择的材料在这样的应用中使用是必需的。空气射流冲蚀astm g76试验机便于在各种条件下测定的磨损率。磨损率可以用来确定在给定操作条件的材料。它也可以被用来预测使用寿命和寿命周期成本。
更新时间:2025-07-02
力筛查是通过耳声发射、自动听性脑干反应和声阻抗等电生理学检测，在受试者自然睡眠或安静的状态下进行的客观、快速和无创的检查。 这个闻名于两步筛查（oae/abr）的新版本听力筛查仪，具有快速、准确、直观的特点。作为世界上值得信赖的听筛产品之一，耳酷灵®为我们赢得了至高的声誉。 显著提高工作效率
更新时间:2025-07-02
原装进口产品，触摸屏操作简单。由普通电池供电，方便操作现场更换，功能强大，可以测量电能质量、连续性、绝缘电阻、线路/回路阻抗、接地电阻与土壤电阻率、rcd跳闸时间和电流，无跳闸时的接地回路阻抗、接触电压ut、相序、泄露电流、环境参数等
更新时间:2025-07-02
gq-hw2a电弧红外碳硫分析仪： 主要技术指标：*测量范围：碳（c）0.001%~10.000%(可扩至99.999%) 硫（s）0.0005%~0.5000%(可扩至99.999%) *分析时间：25~60s可调，一般35s*分析误差：碳优于gb/223.69-1997标准 硫优于gb/t223.68-1997标准 *燃烧功率：小于2.5kva； *工作原理：电弧燃烧，红外检测
更新时间:2025-07-02
米诺高度计非常顺滑的柱塞运动。米诺高度计周期可靠性优于2，000，000hz,保证高速位移时不丢失数据。米诺高度计灵活选择的探针。米诺高度计0-50mm或0-100mm的测量范围可选。
更新时间:2025-07-02
余姚高速电火花穿孔机采用电极管（黄铜管，紫铜管）作为工具电极利用电火花放电蚀除原理，在电极与工作之间施加高频脉冲电源形成小脉宽，电流的放电加工，辅以高压水冷却排渣，使工件的蚀除速度加快，特别适用于不锈钢，淬火钢，铜，铝，硬质合金等各种导电材料上加工直径0.15-2.0之间的深小孔，深度100mm,可直接在工件的斜面，曲加工，用于电火花线切割加工的穿丝孔，化纤喷丝头，喷丝板的喷丝孔，滤板，筛板的群孔
更新时间:2025-07-02
本公司长期有：三菱线切割原厂配件，沙迪克线切机原厂配件，西部线切割机原厂配件，日立线切割机原厂配件，庆鸿线切割机原厂配件，亚特/茗亚线切割机原厂配件，富士通线切割机原厂配件，夏米尔线切割机原厂配件，台湾三贵火花机用配件等。多种线切割与打孔机配件，耗材批发出售。
更新时间:2025-07-02
各规格型号磁盘：电磁吸盘，加工中心强力吸盘,磨床永磁吸盘，雕刻机细目永磁 吸盘，火花机磁盘，线切割磁盘，磨刀机专业磁盘，一体正弦台，弯弓正弦台，双倾正弦台，旋转磁台，直角磁台，圆形吸盘，红铜.黄铜永磁吸盘，双面永磁吸盘，导磁块等……机床精密配件.定做非标吸盘
更新时间:2025-07-02
日本 nikon高度计：加高型精密高度计，量程小于等于100mm的产品高度、厚度与深度测量。日本nikon高度计：流水生产线可以每线一台，高精度高效测量，是高精度产品生产企业最佳选择。日本nikon高度计：选配特殊测针，可完成小深孔，盲孔测量，这是三坐标，影像仪，投影仪与显微镜无法代替的特点，特制测头还可测
更新时间:2025-07-02
商品名称：juki feeder校正仪商品品牌：鑫鸿基/xhj商品产地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：约35kg适用机型：juki系列机型
更新时间:2025-07-02
mipi传输过程中的信号质量问题mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的个联盟，旨在把手机内部的接口如存储接口，显示接口，射频/基带接口等标准化，减少兼容性问题并简化设计。
更新时间:2025-07-02
mipi接口屏闪屏的分析及解决方法 眼图测试基于示波器的当抖动测量工具在条通道上只提供个眼图。在通用测量中，这些工具只有6-8个测量项目。dpojet全面支持所有通道，包括同时测量每条通道的眼图。
更新时间:2025-07-02
mipi接口屏闪屏的分析及解决方法 眼图测试 mipi传输过程中的信号质量问题 mipi驱动问题 重起问题
更新时间:2025-07-02
硬件工程师调试mipi屏经验 mipi 接口的sensor问题 mipi接口的dsi的驱动问题
更新时间:2025-07-02
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析与解决 mipi调试经验 mipi硬件开发 mipi驱动
更新时间:2025-07-02
mipi调试经验 mipi硬件开发 mipi驱动 硬件工程师调试mipi屏经验 mipi 接口的sensor问题
更新时间:2025-07-02
mipi摄像头 mipi眼图测试 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析与解决从软件层面，再回顾下数据格式，加深在数据线上有3 种可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是从停止状态进入相应模式需要的时序：
更新时间:2025-07-02
解决mipi屏黑屏问题 mipi调试过程 mipi接口屏闪屏的测试 分析与解决方法依据ccir编码表，sav和evav之间的保护数据是被编码过的，使用这种方法，编码器可以纠正1-bit错误，可以检查2-bit的错误。该特征只是在csi的ccir编码中，仅仅是奇偶交错模式中支持。
更新时间:2025-07-02
分析与解决方法 mipi c-phy d-phy 眼图测试当帧结束或者是个在rxfifo中的完整的帧数据被全部读出时，eof中断就产生了，eof并不在csi的prp模式中使用。该中断是用在ccir奇偶域交错的模式下使用，该中断当field 1 和field 2交错的时候产生。f1_int和f2_int会产生
更新时间:2025-07-02
解决mipi屏黑屏问题 mipi调试过程 mipi接口屏闪屏的测试bayer数据是个从图像传感器获得典型的行数据。该数据宽度定要通过软件转化为rgb空间或者是yuv空间的数据格式。pack_dir bit设置为0，表示系统是小端，不是大端系统。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的数据内容，p0是个data,依次，p3是个data.
更新时间:2025-07-02
mipi clk眼图 data眼图测试与分析 解决mipi屏黑屏问题mx27提供了个非常业的摄像头csi接口，可以配置相关的口进行接口匹配。我们的摄像头是ov9660，输出设定为yuv模式，因此，csi获取的数据也是yuv格式的数据，因此还需要通过软件，将yuv的格式转化为rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc对应的memory进行显示输出。
更新时间:2025-07-02
mipi c-phy d-phy 眼图测试 mipi屏 初始化指令问题像素可以放映到你的抓图上面的大小，该像素就是说明你的cmos或者是ccd感光元件的像素点多少，可以想象在相同的面积上，数量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么图像的质量其实会变差，这个当然可以理解，但是从大的方面来说，只要镜头好，光源充足，那么效果也会变好，这样画面就比像素低的更加的细腻，所以高像素的好处就在这里。
更新时间:2025-07-02
mipi眼图 数据 clk眼图 data眼图测试与分析 解决mipi屏黑屏问题 mipi调试过程mx27提供了个非常业的摄像头csi接口，可以配置相关的口进行接口匹配。
更新时间:2025-07-02
emmc4 复位测试 clk测试 dqs测试 emmc5 复位测试identification state，发送完 cid 后，emmc device就会进入该阶段。
更新时间:2025-07-02
相关产品：clk测试 , dqs测试 , emmc4 , 上电时序测试data strobe 时钟信号由 emmc 发送给 host，频率与 clk 信号相同，用于 host 端进行数据接收的同步。data strobe 信号只能在 hs400 模式下配置启用，启用后可以提高数据传输的稳定性，省去总线 tuning 过程。
更新时间:2025-07-02
数据信号测试 emmc5 上电时序测试start bit 与 command 样，固定为 "0"，在没有数据传输的情况下，cmd 信号保持高电平，当 emmcdevice 将 start bit 发送到总线上时，host 可以很方便检测到该信号，并开始接收 response。
更新时间:2025-07-02
数据信号测试 emmc5 上电时序测试start bit 与 command 样，固定为 "0"，在没有数据传输的情况下，cmd 信号保持高电平，当 emmcdevice 将 start bit 发送到总线上时，host 可以很方便检测到该信号，并开始接收 response。
更新时间:2025-07-02
clk测试 dqs测试 emmc4 上电时序测试，眼图测试crc 为 data 的 16 bit crc 校验值，不包含 start bit。各个 data line 上的 crc 为对应 data line 的 data 的 16 bit crc 校验值。
更新时间:2025-07-02
数据信号测试 emmc4 复位测试 clk测试 dqs测试在 ddr 模式下，data line 在时钟的上升沿和下降沿都会传输数据，其中上升沿传输数据的奇数字节 （byte 1,3,5...），下降沿则传输数据的偶数字节（byte 2,4,6 ...）。
更新时间:2025-07-02
复位测试 clk测试 dqs测试 emmc4 上电时序测试当 emmc device 处于 sdr 模式时，host 可以发送 cmd19 命令，触发总线测试过程（bus testing procedure），测试总线硬件上的连通性。
更新时间:2025-07-02
emmc 上电时序测试 电源纹波测试emmc 芯片下方在敷铜时，焊盘部分要增加敷铜禁布框，避免铜皮分布不均影响散热，导致贴片虚焊。
更新时间:2025-07-02
emmc 时钟测试 数据信号测试电源纹波测试过大的问题通常和使用的探头以及端的连接方式有关。先检查了用户探头的连接方式，发现其使用的是如下面左图所示的长的鳄鱼夹地线，而且接地点夹在了单板的固定螺钉上，整个地环路比较大。由于大的地环路会引入更多的开关电源造成的空间电磁辐射噪声以及地环路噪声，于是更换成如下面右图所示的短的接地弹簧针。
更新时间:2025-07-02
emmc 复位测试 clk测试 dqs测试这是个典型的电源纹波测试的问题。我们通过使用短的地线连接、换用低衰减比的探头以及带宽限制功能使得纹波噪声的测试结果大大改善。
更新时间:2025-07-02
emmc4 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试实际上就是把电缆的头接在示波器上，示波器设置为50欧姆输入阻抗；电缆的另头剥开，屏蔽层焊接在被测电路地上，中心导体通过个隔直电容连接被测的电源信号。这种方法的优点是低成本，低衰减比，缺点是致性不好，隔直电容参数及带宽不好控制。
更新时间:2025-07-02
相关产品：emmc5 , 上电时序测试 , 电源纹波测试 , 时钟测试 , 数据信号测试通俗的来说，emmc=nand闪存+闪存控制芯片+标准接口封装。
更新时间:2025-07-02
emmc4 , 复位测试 , clk测试 , dqs测试emmc则在其内部集成了 flash controller，包括了协议、擦写均衡、坏块管理、ecc校验、电源管理、时钟管理、数据存取等功能。
更新时间:2025-07-02
emmc5 复位测试 clk测试 dqs测试包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、总线接口控制（card interface controller）、电源控制、寄存器组。
更新时间:2025-07-02
emmc5 复位测试 clk测试mmc通过发cmd的方式来实现卡的初始化和数据访问。device identification mode包括3个阶段idle state、ready state、identification state。
更新时间:2025-07-02
misenbo 硬件开放实验室 开放实验室 硬件实验室 ets-lindgren 7405近场探头 仪器资讯
更新时间:2025-07-02
misenbo 硬件开放实验室 开放实验室 硬件实验室 nemtest dito 静电放电模拟器 仪器资讯
更新时间:2025-07-02
cie2.0 3.0 物理层致性测试pcie总线与pci总线不同，pcie总线使用端到端的连接方式，在条pcie链路的两端只能各连接个设备，这两个设备互为是数据发送端和数据接收端。pcie链路可以由多条lane组成，目pcie链路×1、×2、×4、×8、×16和×32宽度的pcie链路，还有几乎不使用的×12链路。
更新时间:2025-07-02
hcld-3系列高压耐漏电起痕试验仪采用西门子plc作为主控制系统，配合高精度电压、电流传感器、高压真空断路开关、高压交直流变压器元件构成。高压耐漏电起痕试验是在工频下,用液体污染和倾斜试样评定在严酷环境条件下使用的电气绝缘材料耐漏电起痕和耐电蚀损性能。其评定的方法有两种,即恒定漏电起痕电压法和逐升压漏电起痕电压法。试验中可采用两种终点判断法来确定试验终点。方法a是当高压回路中通过的电流达到或超
更新时间:2025-07-02
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