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秒懂技术:不一样的颗粒表征知识

点击次数:312 发布时间:2020/1/7 9:39:57

麦克研讨会

https://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_10105.html


讲师简介:

许人良博士,现任美国麦克仪器公司资深首席科学家,从事颗粒表征和检测技术的应用与研究40多年,是该领域的国际资深著名专家。
许人良博士是中国国家标准化管理委员会三个专业委员会(SAC/TC168,SAC/TC168/SC1,SAC/TC584)的委员,中国颗粒学会高级理事,国际标准化组织(ISO)与美国材料与试验协会(ASTM)的资深委员,美国化学学会(ACS)会员与美国物理学会(APS)会员。
许人良博士已发表基础理论研究和应用领域的科技论文近百篇,援引4400多次,获得3项美国专利,著有颗粒表征中的权威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》,执笔或参与制定了多项国际标准、中国国家标准与美国国家标准。






 

颗粒表征样品准备与测量数据统计的一般知识

课程描述:

在颗粒材料的研发、制备、生产、应用中,材料的物理特性表征是必不可少的。各类颗粒表征技术的第一步是样品的准备,包括取样、样品分割、与样品分散。如果样品准备不正确,则可能用了最先进的仪器与分析手段,得到了正确的测量数据,可是却得到错误的表征结果。得到测量结果后,如何进行数据的统计表述,也是经常遇到的实际问题。此讲座将重点讨论这两方面的一些基本知识。


 

培训方式:线上平台

时间:2020年1月10日 10:00-11:00am



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