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美国GGB探针：直流探针、射频探针
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产品展示
半导体测试探针-GGB直流硬探针ST系列
点击次数：1169
价格：￥电议
更新日期：2026/9/9 16:27:49
生 产 地：美洲
产品型号：
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详细内容
| 一、T-4系列软针
T-4-10针尖在电镜下扫描成像 |
T-4系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电 极，或者 FIB(聚焦离子束)制作的 mini电极。
T-4系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接 于镀锡的铜材质针杆上。
其中T-4-10和T-4-22两款是客户反馈比较有优势的 型号，因为其针须直径较细，具有良好的弯曲弹性， 能够极大的减少对芯片电极的损害，在部分震动环 境下面也能够保证和电极的良好接触。
T-4软针不建议在敏感节点使用，因为会产生电容负 载的问题，在此环境下，建议使用高阻抗 Picoprobes
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| 型号 | 针须直径 | 针尖直径 | 针须长度 |
| T-4-5 | 5微米 | <0.2微米 | 0.13" (3.3mm) |
| T-4-10 | 10微米 | <0.2微米 | 0.13" (3.3mm) |
| T-4-22 | 22微米 | <2.0微米 | 0.20" (5.1mm) |
| T-4-35 | 35微米 | <4.0微米 | 0.20" (5.1mm) |
| T-4-60 | 60微米 | <6.0微米 | 0.20" (5.1mm) |
| T-4-125 | 125微米 | <10.0微米 | 0.20" (5.1mm) |
| ST系列硬探针
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ST系列探针尺寸图
ST系列硬针是 0.020 inch (0.51mm)直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针 尖直径，长度为 1.5inch(38.1mm)的探针。这种探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线 路点测。 ST系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，如果 选择镀镍则型号后面增加“NP”。
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