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联系人：向文梅
森东宝探针台
森东宝探针台配件
美国GGB探针：直流探针、射频探针
- Model 110H
- Model 40A
- Model 12C
- Model 7 and Model 7A
- Model 40M
- Model 50A
- 校准片
- Model 67A
- Integrated Balun Probes
- Multi-Contact Wedge
- Probe Cards
- Model 50
- Model 75
- Model 90
- Model 120
- Model 140
- Model 220
- Model 170
- Model 325B
- Model 500B
- Model 1100B
- Model 10 (dc to 11 GHz )
探针座
光学平台
液晶屏激光修复仪
Bias Tees
探针夹具
屏蔽箱
转接头
显微镜
气体放电与等离子体诊断仪
产品展示
深圳cindbest直流测试探针台生产厂家
点击次数：2350
价格：￥电议
更新日期：2026/9/9 16:27:49
生 产 地：中国大陆
产品型号：
- 电话: 18******958
- 手机: 18******958
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- 交换名片后展示联系方式 → →
详细内容
森东宝为GGB中国区独家正式授权代理商，欢迎各位新老客户前来咨询。
CS系列探针台造型小巧，测量精度高，操作方便，符合人机工程学。主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。
同类案例：清华大学材料系，北京大学化学系，厦门大学，中山大学，华侨大学，南京邮电大学，成都电子科技大学等客户。
深圳cindbest直流测试探针台生产厂家
CS探针台能够胜任的测试有：
| 序号 | 根据测试样品分类 |
| 序号 | 根据应用分类 |
| 1 | 晶圆测试 |
| 1 | 射频测试 |
| 2 | LED测试 |
| 2 | 高温环境测试 |
| 3 | 功率器件测试 |
| 3 | 低电流（100fA 级）测试 |
| 4 | MEMS测试 |
| 4 | I-v/c-v/p-iv测试 |
| 5 | PCB测试 |
| 5 | 高压，大电流测试 |
| 6 | 液晶面板测试 |
| 6 | 磁场环境测试 |
| 7 | 太阳能电池片测试 |
| 7 | 辐射环境测试 |
| 8 | 材料表面电阻率测试 |
| 9 | 积分球测试 |
| 规格 | ||
| Chuck（可选） | 4" 或6" 不锈钢，真空吸附型，独立开关控制 | |
| Chuck X-Y轴行程，精度 | 4" x4"，10um | |
| Chuck 旋转角度 | 0~360 度 | |
| Chuck 旋转角度微调精度 | 0.01° | |
| Chuck快速升降（选配） | 4mm | |
| Chuck微调升降（选配） | 4mm ，1um精度 | |
| Chuck 平整度 | 5um | |
| 针座平台 | C型设计，可放置8个BT 型针座，可扩展为O型平台 | |
| 针座平台平整度 | 5 um | |
| 显微镜Z轴行程，精度 | 2"，细调精度0.1um | |
| 需求 | ||
| 电力 | 220 VAC, 60Hz | |
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| 真空 | -250 mmHg, 7 liter/min | |
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| 尺寸 | ||
| 320mm宽*320mm长*400mm高（带显微镜） | ||
| 重 20 Kg（带显微镜） | ||
| 可选附件 | ||
| 激光切割 | ||
| 加热台 | ||
| 防震桌 | ||
| 显微镜暗场 / DIC/Normarski 检测 | ||
| 光强/波长测试接口部件 | ||
| 射频测试探头和线缆 | ||
| 有源探头 | ||
| 低电流/电容测试 | ||
| 高压测试 | ||
| CCD视频系统 | ||
| 液晶漏电分析套装 | ||
| 屏蔽箱 | ||
| 镀金Chuck | ||
探针台的使用
- 将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。
- 使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。
- 使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。
- 显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。
- 待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，最后则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。
- 确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。
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探针台细节图：
采购须知 (例如发货时间、运输方式、售后服务事项等)常见故障的排除
当您使用本仪器时，可能会碰到一些问题，下表列举了常见的故障及解决方法。
症状
可能原因
解决方法
移动样品后画面变模糊
显微镜不垂直
调垂直显微镜
样品台不水平
调水平样品台
样品不平
显微镜视场亮度不足，边缘切割或看不到像
转换器不在定位位置上
把转换器转到定位位置上
管镜转盘不在定位位置上
把管镜转盘转到定位位置上
照明的亮度不足
调节光源亮度或者把孔径光栏孔调大
没有装目镜
装上目镜
没有装物镜
装上物镜
显微镜像质变差
目镜脏
物镜脏
管镜脏
对目镜，物镜，管镜脏的地方进行清洁
孔径光栏关的太大或者太小
调节孔径光栏
没有调好焦
调节调焦手轮
样本上盖有盖玻片等介质
移开盖玻片等介质
图像一边清晰，一边模糊
样本倾斜放置
放平样本，或者调节样品台水平
物镜没有旋紧
旋紧物镜
眼睛容易疲劳
双目头的瞳距和操作者不匹配
调节双目头的瞳距
目镜视度调节不正确
调节目镜视度
照明亮度不合适
调节光源亮度或者孔径光栏孔
产品实拍图：
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