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测试仪
点击次数：1803
价格：￥电议
更新日期：2026/9/8 5:11:47
生 产 地：中国大陆
产品型号：ST-82
相关标签：ST-82数字式四探针测试仪
详细内容
ST-82数字式四探针测试仪
采用四探针测试技术，宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，测量方便，精确，游移率小，寿命长，可测量片状、块状等半导体材料ST-82数字式四探针测试仪
采用四探针测试技术，宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，测量方便，精确，游移率小，寿命长，可测量片状、块状等半导体材料ST-82数字式四探针测试仪
特点：
采用四探针测试技术，宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，测量方便，精确，游移率小，寿命长，可测量片状、块状等半导体材料及径向、轴向的电阻率和扩散层的薄层电阻、方块电阻；对薄膜等材料的电阻率也可精确测量
主要技术性能：
测量范围：
电阻率：10-4－103Ω/cm
电阻：10－6－105Ω
方块电阻：10－3－104Ω/□
恒流源：10μA-100mA（五档）
精度：≤±0.5%±2个字
分辨力：0.1μV
功耗：12W（约）
外形尺寸：400*120*400mm
净重：15千克
ST-82数字式四探针测试仪
ST-82 ： ST-82数字式四探针测试仪
采用四探针测试技术，宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，测量方便，精确，游移率小，寿命长，可测量片状、块状等半导体材料ST-82数字式四探针测试仪特点：
采用四探针测试技术，宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，测量方便，精确，游移率小，寿命长，可测量片状、块状等半导体材料及径向、轴向的电阻率和扩散层的薄层电阻、方块电阻；对薄膜等材料的电阻率也可精确测量
主要技术性能：
测量范围：
电阻率：10-4－103Ω/cm
电阻：10－6－105Ω
方块电阻：10－3－104Ω/□
恒流源：10μA-100mA（五档）
精度：≤±0.5%±2个字
分辨力：0.1μV
功耗：12W（约）
外形尺寸：400*120*400mm
净重：15千克
ST-82数字式四探针测试仪
ST-82 ：
ST-82数字式四探针测试仪
