怎样用探针来测定胶质层的上、下部层面？

测定上部层面时，探针插入测孔中的感觉有阻力即可。因为胶质层表面是软的胶体状物质，所以不能用力去扎，否则会将上部层面扎凹而使测值偏低。
测定下部层面时，则要使探针穿透胶质体达到半焦表面。由于胶质体的粘度大小不一，所以用力的大小也应不同。对于具有平滑下降、波形之类的体积曲线的煤样，因为胶质体的粘度不大，稍用力即可穿透胶质体；而之字形、山形之类的煤样，因为胶质体的粘度较大，则要用力才能扎透胶质体；如胶质体粘度很大，则要用很大的力气才能扎穿。所以测下部层面时要根据胶质体的粘度大小，分别情况用不同的力去扎穿胶质体。力量大小的掌握，主要靠经验。
半焦表面较硬，很容易判断。
这里特别要注意的是；对于平滑下降和部分平滑下降型的煤样由于胶质体粘度非常小，而下部层面-半焦表面也较软（因为结焦不好），所以测定的手感不易掌握，稍一用力就会将半焦扎穿，而且这个往往被遗留下来，直到实验结束，因而使测值不准。所以对于这样的煤样测定时，插入探针一感到有阻力了就算是上部层面，然后轻轻地扎穿胶质体，一感到有稍大一些阻力，即为下部层面，且不可用力去扎。

原创作者：鹤壁市鑫宇仪器仪表有限公司