BZ537x SAM/SIM卡测试板-内嵌M537a芯片

BZ537x SAM/SIM 卡测试板，是圆志科信专为 M537a 芯片配套研发的评估测试底板，板载 M537a 接触式安全读写芯片、SAM/SIM 卡座与串口电路，上电即可开展接触式卡片读写测试，省去客户设计外围硬件电路的工作量。

本测试板符合 ISO7816 国际标准，支持 PSAM、ESAM、SAM、SIM 等接触式 CPU 卡，兼容 T=0、T=1 卡片传输协议，支持多种波特率配置。自带卡片在位检测功能，实时识别卡片插拔，防止通信出错。采用 UART 串口和上位机、主控 MCU 通信，接口简单，支持 APDU 指令交互调试。

原厂配套资源完善，提供上位机调试工具、C 语言示例代码、硬件手册，研发人员可快速测试芯片读写能力、调试安全认证逻辑。适用于地铁闸机、门禁一卡通、充电桩、物联网安全终端等项目前期方案验证。支持项目定制，原厂可提供技术对接支持，加速安全识别项目开发落地。