BZ537Nx SAM/SIM卡测试板-内嵌M537a芯片

BZ537Nx SAM/SIM 卡测试板是圆志科信为 M537a 芯片配套推出的开发评估工具，板载 M537a 多通道 SAM 卡读写芯片、SAM/SIM 卡座、串口通信电路，上电即可开展接触式卡片读写测试，无需客户自行设计外围硬件电路。

本测试板严格遵循 ISO7816 协议标准，支持 PSAM、ESAM、SAM、SIM 接触式 CPU 卡识别，支持 T=0、T=1 卡片协议，适配 9600、38400、115200 多种波特率。自带卡片在位检测功能，实时监测卡片插拔状态，规避通信异常。采用 UART 串口与上位机或主控 MCU 通信，命令接口简单，支持 APDU 指令交互调试。

开发配套齐全，原厂提供调试上位机软件、C 语言示例代码、开发手册，方便研发人员测试芯片读写性能、调试加密认证逻辑。广泛用于地铁闸机、充电桩、门禁一卡通、物联网安全终端等项目前期方案验证。 产品支持定制调试，原厂技术团队提供技术支持，助力智能安全识别项目快速落地。