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镀层厚度检测仪
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更新日期:2026/3/18 11:06:29
生 产 地:中国大陆
产品型号:
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详细内容
特点
高级型号仪器,具有常见的所有功能
射线激发量的灵活性最大,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变
通过硅漂移探测器,在 > 10万cps(每秒计数率) 的超高信号量下也可以正常工作,而不会出现能量分辨率的降低
极低的检测下限和出色的测量重复度
带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量设备
大容量便于操作的测量舱
典型应用领域
测量极薄的镀层,例如应用于电子和半导体行业中
痕量分析,例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测
进行高精度的黄金和贵金属分析
光伏产业
测量 NiP 镀层的厚度和成分

